嵌入式硬件測試平臺及其硬件識別系統的設計與實現

楊慧敏 雷源春

摘要：本文分析了嵌入式測試系統的技術特點和國內外研究的現狀，總結對比各類文獻關于計算機硬件測試的技術方法后，指出了目前嵌入式測試平臺所存在的測試自動化程度不足、硬件測試兼容性較低的問題，并針對問題給出了建立硬件識別系統、硬件測試系統以及上位機控制系統的解決方法。同時研究了一種使用獨立控制器的硬件識別系統，探討了測試平臺對硬件識別的要求和實現硬件自動識別的關鍵技術，提出了一種嵌入式硬件識別系統，并對其技術方案并進行了研究，包括電路框架、掃描及反饋策略、識別邏輯流程、識別控制指令、硬件ID編碼。并以識別控制器為核心，構建了硬件識別系統的電路，并為電路進行了邏輯仿真，驗證了硬件識別系統的有效性。

關鍵詞：嵌入式系統；測試平臺；硬件識別；識別控制器；ID編碼

1引言

在電子技術領導的科學技術高速發展的今天，嵌入式技術在消費市場、工業控制、科學研究、軍工等領域上有著重要的地位。這些嵌入式電子產品也在性能、功耗控制和智能化等方面不斷地追求提升和創新。因此，產品研發企業也對產品的研發過程提出了更快、更精密和更大規模等要求。為了滿足這些研發要求，一方要求研發人員有更高的知識和經驗水平，另一方面要求研發時所采用的調試系統平臺具有更多的輔助功能來提高研發的效率。

目前，應用于嵌入式調試系統平臺上的一些擴展技術，確實有助于研發人員減少一定的工作量，提高研發的效率。……