自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展現(xiàn)狀和前景

【摘要】在科學(xué)技術(shù)水平不斷提高的今天，自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)在各個(gè)國(guó)家的航天、軍事、電子和通信等多個(gè)領(lǐng)域都得到了應(yīng)用，并已取得了顯著的發(fā)展。而與此同時(shí)，隨著高新技術(shù)的發(fā)展，自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)所要測(cè)試的對(duì)象也變得越加復(fù)雜。在這種情況下，了解自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展現(xiàn)狀，從而探究其發(fā)展前景，才能進(jìn)一步推動(dòng)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展，進(jìn)而使其為我國(guó)科技的發(fā)展做出應(yīng)有的貢獻(xiàn)。因此，本文對(duì)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展現(xiàn)狀和未來(lái)的發(fā)展趨勢(shì)進(jìn)行了研究。

【關(guān)鍵詞】自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)；發(fā)展現(xiàn)狀；前景

引言

早在上個(gè)世紀(jì)的50年代，半自動(dòng)/自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)就被研制了出來(lái)。而隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)和集成電路技術(shù)的發(fā)展，自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)逐漸在各個(gè)行業(yè)得到了應(yīng)用，并取得了一定的發(fā)展。在80年代末期，一些基于LXI、PXI儀表總線的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)在一些行業(yè)得到了應(yīng)用，而由于其具有體積小和測(cè)試效率高等優(yōu)點(diǎn)，從而使其迅速的取得了新的發(fā)展。而進(jìn)入到21世紀(jì)，自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)顯然已具有了模塊化和標(biāo)準(zhǔn)化的特點(diǎn)，并且擁有著通用化、高精度和網(wǎng)絡(luò)化的發(fā)展趨勢(shì)。

1、自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展現(xiàn)狀

自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是用來(lái)進(jìn)行設(shè)備性能測(cè)量和故障診斷的系統(tǒng)，其不僅需要自動(dòng)完成數(shù)據(jù)的傳輸與存儲(chǔ)，還要進(jìn)行數(shù)據(jù)的處理和顯示輸出。一般情況下，自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是由測(cè)試設(shè)備、測(cè)試程序集和測(cè)試環(huán)境組成。自進(jìn)入21世紀(jì)以來(lái)，在測(cè)試程序方面，自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)逐漸具有了模塊化和標(biāo)準(zhǔn)化的特點(diǎn)，并且能夠快速的完成測(cè)試數(shù)據(jù)的高精度傳輸。……