光纖熔接和盤纖工藝對傳輸衰減影響的實驗

徐浩躍 周建紅（作者單位：寧波市鄞州區廣播電視臺）

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光纖熔接和盤纖工藝對傳輸衰減影響的實驗

徐浩躍 周建紅
（作者單位：寧波市鄞州區廣播電視臺）

摘 要：基于光纜通信線路技術在維護過程中的薄弱環節進行探究并分析，通過實驗研究，總結并歸納出光纖熔接和盤纖工藝對傳輸衰竭的影響，提醒工作人員要重視光纖接續和光纖的上碟盤留現象，以達到提高傳輸質量的目的。

關鍵詞：光纖熔接；盤纖工藝；傳輸衰竭；影響

隨著國家網絡規模的不斷擴大，目前已經實現了傳輸網絡光纜化，為了提高光纜傳輸的高效性，則需要網絡工作人員重視光纖接續和光纖的上碟盤留現象，尤其是出現了光纖芯數比較多時，不能用粘性膠紙將光纖之間粘壓在盤上，避免影響光纖傳輸的質量和傳輸的效率。因此，探究、分析光纖熔接和盤纖工藝具有十分重要的意義。只有認清光纜通信線路技術在維護過程中的薄弱環節，并根據實驗數據分析影響光纖傳輸質量的問題，才能制定相應的解決措施，避免粘性膠紙或膠帶粘壓在光纖上。

1　光纖熔接與接頭耗損之間存在的相關性研究

實驗研究表明，光纖熔接時接頭的耗損程度不一樣，當重復熔接2次或者是3次時，原來耗損出現了變大現象。當重復熔接5次時，接頭耗損現象普遍存在，表明熔接次數與接頭耗損之間呈正比例關系，熔接次數越多，接頭耗損現象越嚴重。重復熔接次數不斷增加過程中，使得光纖容易受到高壓放電，且被電弧擊焦的程度越來越嚴重，最終形成另外一種介質，導致折射率與原本的折射率之間出現了較大的差異性，最終迫使光波產生了大量的輻射。因此，在熔接次數不斷增多時，光纖接頭的數值仍然在原值基礎上波動，表明此值不能作為估測接頭的耗損數值。

2　光纖受壓、盤纖直徑與光纖衰減之間存在的相關性研究

當光纖受壓時在光纖軸上產生了幾微米級的彎曲，從而產生了耗損現象，這其中相當于纖芯與包層的分界面出現了凹凸不平的現象，當砝碼在不斷加重時，這種薄層分界面產生的凹凸不平現象會越發嚴重，在傳輸模式下轉換成輻射量也在不斷增多，這表明：光纖衰減現象是隨著砝碼的不斷增加而不斷增加的，二者之間呈正比例關系。

當盤纖直徑越小時，光纖衰減的程度越來越大，此外，光纖的圈數在不斷增多的過程中，光纖衰減的程度也會逐漸增加，但是當盤纖直徑在不斷增大時，盤纖對光纖衰減的影響會逐步降低，此外，光纖圈數對光纖衰減造成的影響也會不斷減少，通過實驗分析到：當圈數影響1310 nm波長為D≥6 cm時，且圈數影響的1550 nm波長為D≤8 cm時，另一端波長對直徑和圈數造成的影響程度卻存在一定的差異性，可能比此類圈數波長的影響要大許多。通過圈數和波長的影響了解到，直徑越小的盤纖對傳輸質量造成的影響越大。造成這種現象的原因是光波導在彎曲時會產生模的轉換，導致傳播模轉換成了輻射模，在光纖傳輸過程中，透過到包層成為輻射模形成了一定的耗損，相應的增加了光纖對傳輸衰減的影響。

3　避免光纖熔接重復使用的建議

筆者通過自身多年實踐工作經驗，以及自身對光纖傳輸的了解，總結并歸納出光纖重復熔接使用的建議：（1）檢查熔接程序是否合理、有效；（2）根據屏幕顯示觀察并了解光纖纖芯有無錯位現象；（3）光纖清潔-端面的切割最終到放入V型槽這一過程是否滿足運行的要求；（4）裸纖在工作臺上有無側壓現象發生；（5）檢查固定光纜端口過程中鎖帶與束管的位置是否合理，確保以上5條建議正確、合理時，可以重復熔接3次左右，且保證光纖本身質量的前提下進行重復熔接，能夠有效避免光纖傳輸衰減現象的發生。

除此之外，在光纖上盤時需要注意的問題有：確保盤纖的直徑在大，且1550 nm的波長其光纖必須要＞8 cm，1310 nm的波長其光纖必須要大于6 cm；當光纖纖芯數比較多時，要采取分碟盤留的方式來減小開剝的長度，避免產生傳輸衰減的影響發生。此外，堅決不能在光纖盤上使用粘性膠紙，不能在光纖接頭嵌入卡座處使用腐蝕性粘膠，避免引起接頭錯位現象發生，提高光纖傳輸的質量。

4　結語

為了提高光纖傳輸的質量和效率，避免光纖受壓時在光纖軸上產生了幾微米級的微彎曲，從而產生了耗損現象，或者是光波導在彎曲時會產生模的轉換，導致傳播模轉換成了輻射模，透過到包層成為輻射模形成了一定的耗損，增加光纖對傳輸衰減的影響。因此，要保證盤纖的直徑足夠大，控制好光纖纖芯數；不能使用粘性膠紙等，有效避免光纖傳輸衰減現象的發生，確保傳輸質量。

參考文獻：

[1]劉利軍.通訊光纖傳輸衰減產生的原因及對策[J].科技咨詢2011（36）.

[2]金建偉.影響光纖熔接損耗的因素及解決方法[J].有線電視技術,2013（5）.

[3]吳月明.淺析降低光纖熔接損耗的方法[J].中國有線電視,2000（21）.

作者簡介：徐浩躍（1982-），男，浙江寧波人，本科，工程師。研究方向：廣電網絡技術。