MRI在新生兒低血糖腦病診斷中的應用分析

劉鶯 周衛萍

MRI在新生兒低血糖腦病診斷中的應用分析

劉鶯 周衛萍

目的探討磁共振(MRI)在新生兒低血糖腦病診斷中的應用分析。方法采用回顧性分析方法,20例低血糖腦病新生兒患者的MRI資料, 對患兒進行常規T1WI、T2WI、T2FLAIR、彌散加權系列(DWI)掃描檢查, 如果患兒有合并出血癥狀加掃磁敏感(SWI)序列。結果低血糖腦病具有高度的區域選擇性, 主要累及大腦皮質、海馬、基底節區和胼胝體壓部。20例患兒中常規T1WI表現為受累部位稍低8例, 稍高4例；T2W2表現為受累部位稍高或灰白質分界不清8例；T2FLAIR序列和DWI呈高信號, ADC值減低。合并出血時SWI序列病變內見片狀低信號。結論新生兒低血糖腦病一般呈對稱性分布, 具有一定的特征性, DWI對低血糖腦損傷的檢測比較敏感, SWI對合并出血敏感, 磁共振對此病的診斷中具有重要的應用價值。

磁共振；新生兒；低血糖腦病

新生兒糖代謝容易產生低糖血癥, 從而引起腦損傷, 導致低血糖腦病, 損壞患兒的中樞神經系統[1]。如果不及時治療可能會起因嚴重的認知障礙、腦癱、癲癇等后遺癥, 嚴重影響患兒的生活質量。新生兒低血糖腦病早期缺乏明顯癥狀,給臨床診斷帶來較大的困難。近幾年, 隨著影像技術的發展,磁共振檢查逐漸被應用于新生兒低血糖腦病的診斷中, 對新生兒低糖腦損傷具有較好的敏感性, 為早期診斷提供依據[2]。為了研究新生兒低血糖腦病磁共振診斷價值, 作者選取20例患兒進行研究、分析, 現報告如下。

1 資料與方法

1.1 一般資料 隨機選取2011年6月～2013年10月以來本院收治的20例低血糖腦病新生兒患者的MRI資料進行回顧性分析, 所有患兒均確診為低血糖腦損傷, 磁共振檢查時間為出生后38 h～7 d；20例患兒中男11例, 女9例；胎齡38～42周, 體重2000～4500 g, 平均體重(3170±1520)g；所有患兒均屬足月順產和剖宮產。入選患兒MRI檢查均支持腦損傷；伴有陣發性子嫻、驚厥、嗜睡、拒乳以及反映低下等低血糖臨床癥狀；所有入選患兒均沒有缺氧性腦病、感染性疾病或者遺傳性疾病等, 所有患兒糖值在0.4～1.4 mmol/L范圍之內, 臨床表現為反應差、尖叫拒乳等。患兒沒有宮內窘迫史、顱內感染及遺傳性代謝疾病等。

1.2 方法20例患兒首先進行T1WI、T2WI、T2FLAIR、彌散加權系列(DWI)常規掃描, 掃描設備采用Philips1.5 T超聲型MR儀, 掃描序列及參數為：常規T1WI TR128 ms, TE2 ms,T2WI TR3 000 ms, DWI TR1923 ms, TE56 ms, 擴散梯度因子指分貝為0和1000 s/mm2, SWI TR24.5 ms, TE34.5 ms。患兒掃描前使用水合氯醛灌腸鎮靜。

2 結果

20例患兒中常規T1WI表現為受累部位稍低8例, 稍高4例；T2W2表現為受累部位稍高或灰白質分界不清8例；T2FLAIR序列和DWI呈高信號, ADC值減低。合并出血時SWI序列病變內見片狀低信號。經過診斷治療所有患兒均在2～3個月內復查,12例患兒MRI表現為正常,8例患兒MRI影像表現為不同程度的對應區域局限性腦溝增寬, 腦回變窄,腦室輕度擴張。而且多發軟化灶。

3 討論

葡萄糖是新生兒大腦發育的主要能量來源, 血糖不足容易使新生兒功能絮亂, 臨床上低糖是新生兒最常見的代謝絮亂之一, 嚴重的低血糖容易導致新生兒腦損傷疾病[3]。新生兒低血糖癥狀得不到很好的抑制容易發生一系列的病理變化, 如充血、腦細胞水腫、缺血性點狀壞死等, 進而引起腦損傷, 引發智障、腦癱等功能腦部障礙。

目前, 臨床上使用常規MRI監測對新生低血糖腦病進行檢測, 是一種比較敏感的檢測手段, 但是在檢測過程中它所能顯示的病變范圍和病變程度與臨床表現有一定的差異, 隨著醫療技術的發展, 臨床上開始應用DWI技術與磁共振技術相結合的方法檢測新生兒低血糖腦病, 能夠比較準確的反映病變的內部及周圍異常[4]。DWI技術主要反映組織中水分子無序擴散的能力, 當細胞內水分子增加時, 水分子呈現彌漫擴散, DWI表現為高信號影, ADC表現為低信號影。DWI能夠準確的顯示出新生兒病變范圍和程度, 據有關文獻報道新生兒低血糖腦病48 h內枕頂葉DWI表現為高信號影, 而這種情況在普通的T1WI、T2WI上表現不明顯。本次研究中,20例患兒首次DWI檢查有14例異常, 而T1WI檢查異常的只有10例、T2WI檢查異常表現的只有8例, 明顯低于DWI顯示。

新生兒低血糖病主要累及患兒頂枕葉皮層和皮下層下白質區域, 這可能是因為枕葉軸突生長較其他區域旺盛, 再生長的過程中對葡萄糖放入需求增加。同時, 大腦后動脈除了向枕葉供血以外, 還要向小腦、腦干或者部分丘腦供血,當新生兒發生低血糖時, 枕葉部位更容易受累, 本次研究中,20例患兒中常規T1WI表現為受累部位稍低4例, 稍高3例；T2W2表現為受累部位稍高或灰白質分界不清10例；T2FLAIR序列和DWI呈高信號, ADC值減低。對患兒進行常規MRI監測, 往往表現為血糖低、病變分布區域與腦血管分布不匹配, 患兒以雙側頂枕葉后腦組織、內囊后肢受累為主, 往往呈現對稱性, 特征性比較強。但是常規MRI不能充分顯示病變范圍, 臨床上一般應用常規那日與DWI聯合檢測,進一步判斷新生兒腦損傷嚴重程度, 能較清晰、全面的表現出新生兒腦損傷的程度與范圍。

綜上所述, MRI在新生兒低血糖腦病診斷中具有較好的應用價值, 常規能夠發現腦損傷異常信號, 聯合使用DWI序列較常規T1WI、T2WI顯示具有更高的優越性, 對新生兒腦血病的臨床指導與診斷具有重要的價值。

[1]王龍勝, 鄭穗生, 鄢龍, 等.新生兒低血糖腦損傷的MRI診斷.醫學影像雜志,2010,1(12):146-147.

[2]王來栓, 程國強, 曹云, 等.新生兒癥狀性低血糖腦損傷相關因素分析. 復旦學報(醫學版),2010,32(14):163-165.

[3]劉芳, 郭志梅, 杜志方, 等.住院足月兒獲得性腦損傷相關問題分析. 醫學研究雜志,2009,2(26):203-204.

[4]賈愛英.新生兒低血糖腦病的MRI診斷價值.中國實用神經疾病雜志,2014,14(21):189-190.

10.14164/j.cnki.cn11-5581/r.2015.08.043

2015-01-04]

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