朱紹華
(上海材料研究所,上海 200437)
電子束焊接的基本原理是:電子槍中的陰極,由于直接或間接加熱而發(fā)射電子;該電子在高壓靜電場(chǎng)的加速下,通過(guò)電磁場(chǎng)的聚焦,形成能量密度極高的電子束;用此電子束去轟擊工件,巨大的動(dòng)能轉(zhuǎn)化為熱能,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)工件的焊接。
電子束焊[1]的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)是:被焊接母材緊密接觸在一起,配合間隙極小,焊縫寬度極窄。焊接過(guò)程中,由于電子束入射角度、焊道走偏及電磁場(chǎng)影響等原因,很容易產(chǎn)生未熔合、未焊透、裂紋及氣孔等缺陷。
由于電子束焊的缺陷尺寸極其微小,故射線(xiàn)檢測(cè)時(shí),特別要控制好射線(xiàn)入射角度以保證微小線(xiàn)性缺陷的檢出率,進(jìn)而保證產(chǎn)品的質(zhì)量要求。
筆者介紹的電子束焊接零件為高溫合金焊接組件,焊接結(jié)構(gòu)比較復(fù)雜。零件主體呈圓環(huán)形,圓周方向有多個(gè)凸臺(tái),主體與凸臺(tái)由電子束焊焊接在一起,每個(gè)凸臺(tái)大小及圓焊縫的大小不同,每個(gè)凸臺(tái)圓焊縫的距離不同,位置分布也沒(méi)有規(guī)律,但是所有凸臺(tái)圓焊縫的圓心在同一圓截面上,如圖1所示。

圖1 零件主體與凸臺(tái)的結(jié)構(gòu)示意
該零件是某機(jī)配套的關(guān)鍵部件,它的生產(chǎn)周期也直接影響著科研機(jī)種的交付周期。由于該零件焊接結(jié)構(gòu)比較復(fù)雜,進(jìn)行射線(xiàn)檢測(cè)時(shí),有三種檢測(cè)工藝[2]:
(1)源在外單壁透照:需透照多次。由于凸臺(tái)的四個(gè)角與焊縫邊緣距離很近,為了防止因?yàn)閿[放不當(dāng)造成焊縫被凸臺(tái)四個(gè)角遮擋的現(xiàn)象,故選擇每次只透照相鄰?fù)古_(tái)圓焊縫的半圓,如圖2所示。

圖2 相鄰?fù)古_(tái)焊縫半圓X 射線(xiàn)顯像
(2)源在內(nèi)周向整體透照:需透照一次。
(3)源在內(nèi)周向分區(qū)透照:需透照多次。
該檢測(cè)工藝所需要的最少透照次數(shù),應(yīng)遵循相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)[3]規(guī)定的透照厚度比K值。
該檢測(cè)工藝存在以下缺點(diǎn):當(dāng)相鄰?fù)古_(tái)距離小時(shí),底片影像變形小;當(dāng)相鄰?fù)古_(tái)距離大時(shí),底片影像就會(huì)產(chǎn)生較大變形,如圖2所示,很容易隱藏缺陷,而且會(huì)使需要透照的半圓部位不能全部呈現(xiàn)在底片上。這樣,容易造成不必要的返工,不僅提高檢測(cè)成本,而且增加勞動(dòng)強(qiáng)度。當(dāng)相鄰?fù)古_(tái)距離很大時(shí),就只能一次透照一個(gè)凸臺(tái)的一半,大大增加了檢測(cè)次數(shù)。
綜上所述,該檢測(cè)工藝較復(fù)雜,雖然能有效地保證檢測(cè)質(zhì)量的要求,但檢測(cè)周期長(zhǎng)而且焊縫影像變形大,一旦缺陷出現(xiàn)在畸變較大的區(qū)域,則會(huì)對(duì)評(píng)片工作帶來(lái)很大的困擾。如果不能確定是否為偽缺陷,還可能產(chǎn)生不必要的返工檢測(cè)。
由于零件上的最大凸臺(tái)焊縫的半徑很小(35mm),而且每個(gè)凸臺(tái)圓焊縫的圓心都在一個(gè)圓環(huán)截面上,這樣的結(jié)構(gòu)特征和周向射線(xiàn)機(jī)適用的檢測(cè)對(duì)象很相似,那么就可考慮使用周向射線(xiàn)機(jī)對(duì)該凸臺(tái)焊縫進(jìn)行檢測(cè),如圖3所示。

圖3 源在內(nèi)周向整體透照示意圖
周向射線(xiàn)機(jī)主要檢測(cè)對(duì)象是直徑較大的圓形環(huán)焊縫零件,它的主要優(yōu)點(diǎn)有:①透照距離保持不變,透照厚度均一,底片黑度比較均勻。②射線(xiàn)束處處垂直環(huán)形焊縫,有利于發(fā)現(xiàn)各種缺陷,橫向裂紋檢出率很高。③由于一次曝光,大大提高檢測(cè)效率。
2.2.1 源在內(nèi)周向整體透照時(shí)可能遇到的問(wèn)題
凸臺(tái)的四個(gè)角是否遮擋焊縫;檢測(cè)靈敏度是否達(dá)到檢測(cè)要求(象質(zhì)計(jì)FeⅢ/15號(hào)絲);底片黑度是否達(dá)到檢測(cè)要求范圍(最佳黑度2.0);射線(xiàn)入射角是否達(dá)到檢測(cè)要求(θ≤5°)。
2.2.2 實(shí)際操作中的問(wèn)題
由于機(jī)匣組件大端和小端直徑有差異,因此在檢測(cè)中必須保證大端環(huán)形面和小端環(huán)形面同時(shí)垂直地面,才能使凸臺(tái)圓焊縫圓心都處在一個(gè)同心圓上,從而使射線(xiàn)束能垂直入射到每個(gè)凸臺(tái)的圓心,最終得到黑度均勻的底片。
為了解決這個(gè)問(wèn)題,特制作一個(gè)工裝,該工裝是一個(gè)特制厚度的墊板,墊板厚度為大端圓半徑減去小端圓半徑,這樣可以保證射線(xiàn)束能垂直入射到每個(gè)凸臺(tái)圓焊縫的圓心,保證了檢測(cè)質(zhì)量的要求。
實(shí)際檢測(cè)工藝參數(shù)為:電壓為90kV;電流為5mA;時(shí)間為120s;焦距為R;膠片類(lèi)型MX125(增感屏Pb),象質(zhì)計(jì)為FeⅢ/15號(hào)絲。
檢測(cè)后底片如圖4所示,未發(fā)現(xiàn)焊縫被遮擋的情況,黑度也在2.0左右,同時(shí)檢測(cè)的靈敏度也達(dá)到了檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)的要求;從底片上呈現(xiàn)出的影像看,達(dá)到了檢測(cè)要求的標(biāo)準(zhǔn),避免2.2.1中提到的問(wèn)題的發(fā)生。

圖4 源在內(nèi)周向分區(qū)X 射線(xiàn)影像
2.2.3 理論驗(yàn)證
射線(xiàn)入射角是否達(dá)到檢測(cè)要求的最終結(jié)論要經(jīng)過(guò)理論計(jì)算才能得出。理論計(jì)算如下:
最大凸臺(tái)圓焊縫半徑r為35mm,零件環(huán)形半徑R為350mm,如圖5所示。

圖5 射線(xiàn)入射角理論計(jì)算示意
由tgθ=r/R=0.1,得到入射角的角度θ為5.7°。該角度不能滿(mǎn)足項(xiàng)目對(duì)電子束焊縫角度(±5°)的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)要求,因此一次周向曝光不能滿(mǎn)足檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)的要求。
實(shí)際工作中,周向射線(xiàn)機(jī)每次檢測(cè)的環(huán)形焊縫都是進(jìn)行一次曝光就可以完成檢測(cè)。該零件雖然和日常周向射線(xiàn)機(jī)的檢測(cè)對(duì)象很相似,但是還是存在射線(xiàn)入射角滿(mǎn)足不了要求的問(wèn)題。至此,源在內(nèi)周向整體透照工藝以失敗而告終。
源在內(nèi)周向整體透照技術(shù),唯獨(dú)入射角沒(méi)有滿(mǎn)足要求。因此,需要從理論角度上分析入射角偏大的問(wèn)題。
由分析可知,要減小入射角度,就必須減小透照范圍。故筆者采取源在內(nèi)周向分區(qū)的檢測(cè)工藝。每次只檢測(cè)半個(gè)圓的焊縫,如圖6 所示,使入射角大于5°,這樣就保證了入射角度的大小,使得前面的所有問(wèn)題都得到了解決。

同時(shí),要滿(mǎn)足入射角度不大于5°,選擇的透照焦距R和有效透照區(qū)域L必須滿(mǎn)足表1要求。

表1 透照焦距R 和有效透照區(qū)域L 的技術(shù)要求 mm
由于周向射線(xiàn)機(jī)置于圓環(huán)中,膠片貼于焊縫外側(cè),并使用鉛箔增感屏,所以能屏蔽部分散射線(xiàn),因此暗盒背面不需要再襯托鉛板,以提高工效。從所拍底片看不見(jiàn)在暗盒背面貼附的“B”鉛字影像,說(shuō)明散射線(xiàn)防護(hù)可以滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)要求。
通過(guò)檢測(cè)方案的對(duì)比,最終確定采用源在內(nèi)周向分區(qū)透照工藝技術(shù)。該工藝技術(shù)在以下方面取得了良好的效果:
(1)在保證檢測(cè)質(zhì)量的前提下,檢測(cè)效率得到了較大的提高,從之前的多次減少到2次。
(2)采用周向射線(xiàn)機(jī)檢測(cè),避免散射線(xiàn),減輕了影像的畸變,底片清晰度較好,檢測(cè)靈敏度較高(可以達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)要求的15號(hào)絲)。
[1]黃剛.電子束焊接技術(shù)在航空產(chǎn)品中的應(yīng)用[J].四川兵工學(xué)報(bào),2010(5):73-76.
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