基于遺傳新陳代謝灰色模型的電子設備故障預測研究
2014-04-12 00:00:00朱曉菲王國華張欣豫戴怡維
現代電子技術 2014年1期
摘 要： 經過研究分析，序列光滑度和背景值構造是常規灰色GM（1，1）模型誤差的主要來源。針對這一問題，提出了一種改進的方法：首先對建模序列進行對數平滑處理，而后利用遺傳算法對背景值進行尋優，并形成改進的新陳代謝GM（1，1，λ）模型。最后通過實例驗證，表明改進的新陳代謝模型具有更高的預測精度，可用于電子設備的壽命預測。
關鍵詞： 序列光滑度； 背景值； 遺傳算法； 新陳代謝GM（1，1，λ）模型； 電子設備
中圖分類號： TN710?34； N941.5 文獻標識碼： A 文章編號： 1004?373X（2014）01?0086?04
