近場測試對干涉儀測向體制的相位影響

摘要： 評估近場測試環境對干涉儀測向體制的相位影響，減小或消除近場測試造成的測向誤差，是干涉儀體制測向精度試驗時面臨的一個重要問題。針對實際微波暗室測試環境下，近場測試方法對干涉儀測向體制的相位誤差影響情況進行了分析和驗證。并根據不同發射頻率和發射距離下的仿真測試結果，指出了距離、安裝布局等情況對相位測量誤差的影響情況。對工程實踐應用提供了理論基礎。

關鍵詞： 干涉儀； 近場； 微波暗室環境； 相位誤差

中圖分類號： TN965.2?34 文獻標識碼： A 文章編號： 1004?373X（2013）05?0013?04

引 言

近年來，在電子對抗領域，戰場態勢感知、反輻射導彈目標引導、機載無源偵察定位等技術發展對各測向體制提出了較高要求。其中干涉儀體制測向算法由于其極高的測向精度，獲得了較多的應用 [1]。

根據干涉儀測向原理，干涉儀天線陣接收到的輻射信號波束應為平行波[2]。實際測試時選用的輻射源多為高頻喇叭輻射，在空間上可定性為一個點源[3]。如果該點源到干涉儀接收天線的距離無限遠，則發射波束可等效為平行波束。但是在實際研制過程中，受限于測試場地，輻射信號源到干涉儀天線陣的距離不可能做到無限遠，此時不再適用于平行假定，從而引入了一個由于近場測試造成的相位誤差。如果測試時不考慮該相位誤差的影響，很有可能造成解模糊出錯，最終影響測向精度。

如何評估近場測試對干涉儀測向體制的相位影響，減小或消除近場測試造成的測向誤差，是干涉儀進行測向精度試驗時面臨的一個重要問題。