趙祥敏 李敏君 張偉 趙文海
摘要:實驗采用射頻磁控濺射技術,制備了不同濺射時間下AlN緩沖層的ZnO薄膜,研究了薄膜的結構、形貌及電學性能,結果表明,不同濺射時間下AlN緩沖層Zn0薄膜的生長依然是(002)擇優取向,而且當緩沖層濺射時間為60min時,ZnO薄膜的結構和電學性能最好。
關鍵詞:緩沖層;ZnO薄膜;射頻磁控濺射
中圖分類號:0469文獻標志碼:A文章編號:1007-2683(2012)02-0114-04
哈爾濱理工大學學報2012年2期
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