摘 要:電力設(shè)備介質(zhì)損耗tg&試驗是電力系統(tǒng)預(yù)防性試驗及交接試驗的基本項目。本文闡述了電力企業(yè)電氣試驗人員在測介損tg&過程中影響測量的因素及環(huán)境的影響,及可能出現(xiàn)的異常情況進(jìn)行分析。
關(guān)鍵詞:介損tg&;溫度;濕度;電力檢修
中圖分類號: U463.52+3 文獻(xiàn)標(biāo)識碼:A
伴隨著變電站年檢的到來,各個變電站進(jìn)行設(shè)備的試驗和檢修。介質(zhì)損失角的試驗是高壓電氣設(shè)備的絕緣試驗的基本項目。介損對于發(fā)現(xiàn)電容量比較小的電氣設(shè)備的集中性缺陷非常有效。由于現(xiàn)在的設(shè)備比較先進(jìn),可以說是“傻瓜機”了,一按就出來結(jié)果,但很多電氣人員知其然不知其所以然。在對試驗結(jié)果分析和判斷上,如果沒有一定的理論知識和現(xiàn)場經(jīng)驗,很容易出來誤判斷。
在做試驗前,首先要對試驗設(shè)備的原理有一定的了解。對被試設(shè)備所處的環(huán)境綜合分析,如附近是否停電,電場影響是否很大,溫度濕度是否不符合要求等。其次要對試驗結(jié)果綜合分析,與往年的試驗結(jié)果是否變化很大等。現(xiàn)就做介損tg&試驗時需要注意的幾個問題討論一下:
1 溫度、濕度的影響
溫度、濕度是做電氣設(shè)備設(shè)備中影響最為廣泛,也是對試驗結(jié)果影響最為直接的一個因素。
如早上測得的數(shù)值和中午測得的數(shù)值完全不同。主要是早上比較潮濕,濕度比較大,此時測得的tg&比較大。而到中午,空氣比較干燥,測得的介損值往往比早上測得的介損值要小得多,此數(shù)據(jù)比較接近于真實值。如果早上測得的tg&不合格,不要急于下結(jié)論,換個時間段再測。
如:110kV旺甫變電站2006年年檢旺林線開關(guān)CT A相試驗時,CT型號為LAB-110,早上測得的tg&為1.1/161PF,同去年數(shù)據(jù)比較,介損值明顯增大,到中午重新測試,測得的介損值0.29/159。和上年數(shù)據(jù)基本接近。這說明試驗時,濕度會對我們的試驗結(jié)果影響很大。
2 變電站的電場對試驗儀器的影響
在變電站存在很多電氣設(shè)備,對某一開關(guān),某一間隔試驗,不可能將附近的設(shè)備全部停電。此時不停電的設(shè)備產(chǎn)生的電場會對我們的試驗設(shè)備存在干擾。擺放在位置不同,會產(chǎn)生不同的試驗結(jié)果。附近設(shè)備電壓越高,影響越明顯。
例如:林水變電站2007年年檢做143信旺線A相CT試驗時,CT型號為LB6-110W, 測得的數(shù)據(jù)為0.43/610PF。當(dāng)時的試驗儀器放在143旺林線間隔和142中林線間隔的中間,142中林線沒有停電。而當(dāng)將試驗儀器平移到141旺林線另一側(cè),另一側(cè)沒有高壓設(shè)備。此時測得的數(shù)據(jù)為0.29/622.和上年數(shù)據(jù)基本接近。
3 檢修人員檢修過程的影響
在變電站年檢中,一般來說,檢修人員在試驗前對電氣設(shè)備進(jìn)行清掃。在清掃過程中,檢修人員的抹布多次使用,上面不可避免沾有油污和水分。抹完后的設(shè)備看起來清潔明亮,其實已經(jīng)在被試設(shè)備上面涂了一層油和水的薄膜.所以清掃完畢馬上試驗,所測得的結(jié)果會偏大,要想得到真實的試驗數(shù)據(jù),要等這層薄膜晾干后,方可試驗.這些情況,在我們變電站年檢中經(jīng)常遇到,往往會誤判斷。
4 其他因素的影響
其他因素包括我們試驗過程的工作接地,保護(hù)接地,以及試驗過程中接線頭和被試設(shè)備之間接觸面也會對我們的試驗結(jié)果產(chǎn)生影響.現(xiàn)在在年檢中,很多設(shè)備都涂油漆處理,一是防銹,二是美觀。但這些油漆在試驗中相當(dāng)于串于一個電阻,對我們試驗結(jié)果產(chǎn)生很大的影響。所以在試驗中,接線頭和被試設(shè)備之間接觸面一定要接觸良好等。
5 當(dāng)tg&出現(xiàn)堆或負(fù)值數(shù)值時
在我們變電站年檢過程中,測得的介質(zhì)損耗因數(shù)如果大于規(guī)程要求時,我們肯定不放過,查明原因。但有時測得的介質(zhì)損耗因數(shù)比較小,甚至為零或負(fù)值,這是不是說明被試品合格或絕緣良好呢?答案是否定的。
大體來說,引起介質(zhì)損耗因數(shù)偏大或偏小的原因主要有:在潮濕天氣條件下,瓷套表面凝結(jié)水膜,套管內(nèi)部油質(zhì)劣化,套管抽壓小套管絕緣電阻低,試驗裝置屏蔽不完善等,在試品內(nèi)部或測試電路中形成三端T形網(wǎng)絡(luò),電場的干攏以及標(biāo)準(zhǔn)電容介質(zhì)損耗大于試品介質(zhì)損耗引起的。
下面我們來舉例說明一下問題。以廣西桂東電力旺甫變電站一個35kV油開關(guān)套管為例,測得的A相線路側(cè)tg&為0.05,絕緣電阻為500兆歐。雖然測得的介質(zhì)損耗很小,但肯定不能繼續(xù)投入運行。
分析原因:除了套管內(nèi)部絕緣劣化之外,套管雜散電容的影響也不容視,分析原理如下圖:
當(dāng)高壓引線順著被試品表面而下,引線與被試品的一部分電瓷絕緣之間相當(dāng)于形成了一個雜期電容C0,由于電容并聯(lián)后,總電容大于CX,致使電橋上被試品的這支橋臂測量的總電容加大,因此,測出的tg&(=1/wRXCX1)小于真實值。
當(dāng)空氣濕度較大時,瓷套表面潮濕,污穢嚴(yán)重時,高壓引線與主電容屏之間也相當(dāng)于存在于上述的情況的雜散電容。
又例如:對110kV套管測試,由于法蘭沒有很好接地出現(xiàn)負(fù)值。當(dāng)時該套管沒有安裝在變壓器上,用正接法測得的介質(zhì)損耗因數(shù)為-2.6%。我們也畫圖來分析一下。
假定天氣好情況下,除去其他因素, C1,C2介質(zhì)損耗很小,如果不存在R0,I3與I1,I2同相,均近似為線容性電流,但由于R0存在,使I3與U2的夾角小于90度,這樣向量I2=I1-I3的相位角為900+&,所以電橋測得結(jié)果為負(fù)值。
總之。對于電氣設(shè)備介損tg&試驗,我們一定要結(jié)合各方面因素綜合分析和判斷。如果發(fā)現(xiàn)介損tg&不合格,不要急于下結(jié)論,要換個地點,時間段或換個試驗儀器反復(fù)測量。有時在一定條件試驗不合格,再復(fù)試多一次可能就合格了,作為試驗人員一定要頭腦冷靜,遇事不慌。綜合分析,理清頭緒,才能把試驗做好。
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