Creaform公司發布增強版MetraSCAN 3D CMM光學掃描儀系列

2012年5月1 日，3D便攜式光學測量技術專家Creaform公司在德國隆重發布新一代MetraSCAN 3D CMM光學掃描儀系列。

無論在實驗室還是在工作車間，MetraSCAN 3D掃描儀均堪稱是目前市面上精度最高的掃描解決方案。同Creaform公司所有測量產品一樣，MetraSCAN 3D掃描儀易于掌握和使用，只需區區幾分鐘即可完成安裝。產品內置的TRUaccuracy技術，可確保高精度的三維表面測量，不受周邊環境條件（不穩定、震動、溫度變化等）和操作人員技能的影響。

結合MetraSCAN 3D CMM掃描儀和HandyPROBE光筆無臂式三坐標測量機，可組建一套功能完備而強大的點面測量系統，并可使用一個系統對同一部件進行幾何表面和自由曲面檢測。

據產品總監Jean-Fran?ois Larue介紹，此次推出的增強版Metra SCAN 產品系列更貼近客戶在質量控制和逆向工程方面的需求，擁有更好的可靠性、更快的速度和更廣的應用。

該新品將于2012年5月8～11日在德國斯圖加特CONTROL展會（5號廳5108展臺）正式亮相。