缺陷光學(xué)厚度對(duì)對(duì)稱結(jié)構(gòu)一維光子晶體透射譜的影響

蘇 安，陸 華，黃星壽

(河池學(xué)院 1.物理與電子工程系;2.計(jì)算機(jī)與信息科學(xué)系，廣西 宜州 546300)

缺陷光學(xué)厚度對(duì)對(duì)稱結(jié)構(gòu)一維光子晶體透射譜的影響

蘇 安1，陸 華1，黃星壽2

(河池學(xué)院 1.物理與電子工程系;2.計(jì)算機(jī)與信息科學(xué)系，廣西 宜州 546300)

在A層為雙正和雙負(fù)介質(zhì)情況下，用傳輸矩陣法理論研究缺陷層的光學(xué)厚度對(duì)對(duì)稱結(jié)構(gòu)一維光子晶體(AB)mC(BA)m透射譜的影響，結(jié)果發(fā)現(xiàn):在無缺陷情況下，不論A層是雙正還是雙負(fù)介質(zhì)，禁帶中心均出現(xiàn)超窄頻帶單透射峰，具有傳統(tǒng)對(duì)稱結(jié)構(gòu)光子晶體透射譜的特征;當(dāng)中間插入光學(xué)厚度等于四分之一中心波長(zhǎng)的雙正缺陷C后，兩者的單透射峰一分為二，且雙負(fù)情況下兩透射峰之間的距離較大;當(dāng)缺陷C的光學(xué)厚度為二分之一中心波長(zhǎng)時(shí)，雙正情況下禁帶中心出現(xiàn)單透射峰，雙負(fù)情況下則出現(xiàn)三條透射峰;當(dāng)缺陷C的光學(xué)厚度等于中心波長(zhǎng)時(shí)，雙正情況下出現(xiàn)三條透射峰，而雙負(fù)情況下則出現(xiàn)五條透射峰。對(duì)稱結(jié)構(gòu)光子晶體的透射譜隨缺陷光學(xué)厚度變化的規(guī)律，可用以設(shè)計(jì)可調(diào)性超窄帶濾波器。

光子晶體;光學(xué)厚度;缺陷;透射譜

0 引言

光子晶體的概念是20世紀(jì)80年代末Yablonovitch和John提出的［1－2］，它的最根本特性是具有類似于電子半導(dǎo)體能帶結(jié)構(gòu)中的禁帶──光子禁帶，頻率落在禁帶中的光被禁止傳播。其獨(dú)特的光學(xué)特性和潛在的應(yīng)用前景吸引著越來越多的人進(jìn)行深入的研究。很多研究結(jié)果已經(jīng)表明，光子晶體將在光濾波器、光學(xué)開關(guān)、光波導(dǎo)等光學(xué)器件的設(shè)計(jì)上發(fā)揮著重要的作用［3－6］。……