缺陷光學厚度對對稱結構一維光子晶體透射譜的影響

蘇 安，陸 華，黃星壽

(河池學院 1.物理與電子工程系;2.計算機與信息科學系，廣西 宜州 546300)

缺陷光學厚度對對稱結構一維光子晶體透射譜的影響

蘇 安1，陸 華1，黃星壽2

(河池學院 1.物理與電子工程系;2.計算機與信息科學系，廣西 宜州 546300)

在A層為雙正和雙負介質情況下，用傳輸矩陣法理論研究缺陷層的光學厚度對對稱結構一維光子晶體(AB)mC(BA)m透射譜的影響，結果發現:在無缺陷情況下，不論A層是雙正還是雙負介質，禁帶中心均出現超窄頻帶單透射峰，具有傳統對稱結構光子晶體透射譜的特征;當中間插入光學厚度等于四分之一中心波長的雙正缺陷C后，兩者的單透射峰一分為二，且雙負情況下兩透射峰之間的距離較大;當缺陷C的光學厚度為二分之一中心波長時，雙正情況下禁帶中心出現單透射峰，雙負情況下則出現三條透射峰;當缺陷C的光學厚度等于中心波長時，雙正情況下出現三條透射峰，而雙負情況下則出現五條透射峰。對稱結構光子晶體的透射譜隨缺陷光學厚度變化的規律，可用以設計可調性超窄帶濾波器。

光子晶體;光學厚度;缺陷;透射譜

0 引言

光子晶體的概念是20世紀80年代末Yablonovitch和John提出的［1－2］，它的最根本特性是具有類似于電子半導體能帶結構中的禁帶──光子禁帶，頻率落在禁帶中的光被禁止傳播。其獨特的光學特性和潛在的應用前景吸引著越來越多的人進行深入的研究。很多研究結果已經表明，光子晶體將在光濾波器、光學開關、光波導等光學器件的設計上發揮著重要的作用［3－6］。……