導電聚合物薄膜電阻率測量系統的設計
2011-04-12 00:00:00付慶波王銳曹包華等
現代電子技術
2011年6期
摘要：介紹一種實用的導電聚合物薄膜電阻率測量系統。電阻率的測量原理基于四探針法與比率測量法，以低值恒壓激勵代替恒流激勵，使2種方法結合在一起；然后以ARM7微控制器為系統核心，構建了量程自適應的半自動式系統架構；對電路實際能達到的分辨率和設計要求分辨率進行詳細的分析；最后測量了系列標準電阻和部分導電聚合物薄膜樣品的電阻率值，與標準方法進行了對比，分析了系統各項指標。
關鍵詞：電阻率；四探針；比率測量法；導電聚合物薄膜
中圖分類號：TN710—34；TQ317.3 文獻標識碼：A 文章編號：1004—373x(2011)06—0144—04
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