掃描離子電導(dǎo)顯微鏡的原理及應(yīng)用

摘 要 掃描離子電導(dǎo)顯微鏡(SICM)是一種掃描探針顯微技術(shù)，通過測定超微玻璃管探針的離子電流，它能夠非接觸地掃描樣品表面，進(jìn)而研究樣品的形貌及性質(zhì)。SICM具有成像分辨率高、探針易于制備和對被成像物體無損傷等特點，特別適用于研究生理條件下的活體細(xì)胞，是一種與掃描電化學(xué)顯微鏡及原子力顯微鏡互補(bǔ)的掃描探針顯微鏡技術(shù)。SICM能夠?qū)浗缑婕氨砻妫缁罴?xì)胞表面的顯微結(jié)構(gòu)，進(jìn)行高分辨率成像;并能夠與其它技術(shù)聯(lián)用，研究細(xì)胞形貌與功能的關(guān)系；還能控制沉積特定分子，實現(xiàn)納米尺度的顯微操作與加工。本文對SICM的發(fā)展歷史、儀器構(gòu)造、基本原理及應(yīng)用進(jìn)行了綜述。

關(guān)鍵詞 掃描離子電導(dǎo)顯微鏡; 原理; 應(yīng)用； 評述