紅外光譜結合線陣列檢測技術研究聚合物分散液晶膜分子取向
2010-04-12 00:00:00孫國恩滕紅張春玲竇艷麗徐經偉
分析化學 2010年8期
摘 要 采用偏振紅外光譜和變溫紅外光譜研究聚合物分散液晶膜中液晶分子取向隨外加電場及溫度的變化。利用線陣列檢測技術表征了聚合物與液晶界面處的成分分布。結果表明，線陣列檢測技術能夠快速而直觀地給出成分分布圖，通過該成分分布圖可以解釋PDLC在溫度場作用下分子取向的變化。
關鍵詞 紅外光譜； 線陣列檢測； 聚合物分散液晶； 分子取向
