基于遺傳退火算法的測試序列優(yōu)化研究
2009-12-29 00:00:00梁競敏
計算技術(shù)與自動化 2009年1期
摘要：最優(yōu)測試序列的生成是大型復(fù)雜系統(tǒng)可測試性設(shè)計中極為重要的一步，可利用遺傳退火算法解決組合優(yōu)化問題的優(yōu)越性來生成最優(yōu)測試序列。建立最優(yōu)測試序列問題的數(shù)學(xué)模型，利用優(yōu)先權(quán)布爾矩陣式編碼方案來對測試序列進行編碼，設(shè)計交算子和兩種變異算子，并引入與或樹來說明算法搜索最優(yōu)序列的全過程。在MatLab上進行仿真實驗。實驗結(jié)果表明，該算法取得較好的效果，具有一定的參考價值。
關(guān)鍵詞：故障診斷；測試序列；遺傳退火算法；與或樹
中圖分類號：TP311 文獻標(biāo)識碼：A
