鈔書(shū)哲 丁玉成 葉向東 李滌塵
摘要:以電子束直寫(xiě)光刻圖形為模版,采用直流電沉積和數(shù)值模擬的方法,研究了鎳納米柱陣列圖案化磁記錄介質(zhì)的制備工藝和模版電沉積過(guò)程中的沉積不均勻問(wèn)題,研究結(jié)果表明,在加速電壓、曝光電流確定的條件下,電子束直寫(xiě)光刻模版孔徑由曝光時(shí)間決定,模版的孔徑和孔距在10nm量級(jí)精確可調(diào),在納米孔陣列模版中進(jìn)行電沉積時(shí),適當(dāng)增大孔距,降低陰極電解電勢(shì),可以減小電沉積過(guò)程中相鄰孔之間的相互干擾,提高電沉積的均勻性,從而為圖案化磁記錄介質(zhì)的電沉積制備提供了一種新的方法。