物探方法在工程地質勘查中的應用

摘 要：本文結合工程實例，詳細介紹了聯合剖面法和視電阻率測深法等綜合探測方法在工程地質勘查中結合應用，并在勘查結果資料整理的基礎上，對地質異常特征推斷分析進行了詳細論述，對地質勘查結果進行了評價。

關鍵詞：聯合剖面法；視電阻率；工程地質勘查；推斷分析

中圖分類號：TU195

文獻標識碼：B

文章編號：1008-0422(2008)07-0169-02

1 擬建場址地質概況

1．1 勘查目的任務

湖南一新建大型工業廠房工程，占地約40hm²。第四紀浮土覆蓋，野生植被不發育；地形由西向東逐漸抬高，標高在200m～225m之間。本次勘查的目的任務是：初步查明場地覆蓋層厚度，洞穴分布及斷裂分布特征，為場地建筑的適宜性作出評價。

1．2 地質地球物理特征

1．2．1 場區地質特征

場區均被第四系(Q₄)沖積層覆蓋，總厚約6～18m。上部主為粉質粘土(含耕植土)，下為5～10m的砂層和砂卵石土層，砂卵石層中含有砂金，場地內留下了顯露和隱覆的古采金空洞，大多垮塌或半充填，分布無規律，給工程勘察和設計帶來了困難。

下覆基巖為白堊系下統(K₁)紅色粉砂巖和礫巖。

1．2．2 地球物理特征

場區地質斷面模型為：粉質粘土——砂卵石土(采金空洞)——粉砂巖——砂礫巖，經物性調查，該地質模型的視電阻率特征如表1：

從表1中可見：

①第四第全新統與下覆自堊系地層存在一個數量級的視阻率差異，二者存在較明顯的電性界面，利用視電阻率探測法，可圈出第四系厚度及基巖起伏面。

②殘留采金空洞表現為高電阻特性，其與砂卵石土與下覆紅色粉砂巖有明顯的電性界面、電剖面中的高阻異常為采金空洞的表征。……