高速自動測試設備的未來

半導體業正在逐漸過渡到納米制造工藝。納米技術帶來巨大的好處：幾乎可以自由地增加晶體管數。另一方面，CMOS工藝已發生顯著地變化，因此，納米s。c出現新型的制造缺陷。第一個問題是在高頻時會增加定時失效數。其他問題還包括串擾、時鐘歪斜和同步、高速I／O參量失效，由于其模擬特性，它們對來自相鄰數字芯核的注入噪聲特別敏感。