儀器設(shè)備抗干擾問(wèn)題分析

鄭應(yīng)民

[摘要]在多年從事實(shí)驗(yàn)室教學(xué)實(shí)驗(yàn)中，儀器受干擾問(wèn)題一直是影響教學(xué)科研實(shí)驗(yàn)工作效果因素之一。文章結(jié)合在自主研發(fā)的綜合儀器測(cè)量系統(tǒng)《串連信號(hào)觸發(fā)系統(tǒng)》電路過(guò)程中遇到的問(wèn)題給與分析研究，提出了相關(guān)的解決辦法和建議。

[關(guān)鍵詞]干擾；電子線路；抗干擾

[中圖分類號(hào)]TN973．3

[文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼]A

[文章編號(hào)]1008-1151(2005)09—0221—02