測(cè)試小型存儲(chǔ)器陣列的新方法
2004-06-28 09:28:28
電子設(shè)計(jì)應(yīng)用 2004年10期
關(guān)鍵詞：故障
隨著半導(dǎo)體工藝不斷地進(jìn)步，那些原本存在芯片中的大型存儲(chǔ)器會(huì)轉(zhuǎn)變成數(shù)十或數(shù)百個(gè)小型的存儲(chǔ)器陣列，并且散布在芯片中各個(gè)角落。這些陣列有的是寄存器堆，F(xiàn)IPO，或者是在存儲(chǔ)器管理系統(tǒng)中一些對(duì)性能要求較高的存儲(chǔ)器。針對(duì)這種類(lèi)型的小型陣列，如果想要偵測(cè)出與速度相關(guān)的瑕疵以及固定邏輯(stuck—at)故障，其實(shí)并不是一件容易的事。
猜你喜歡
汽車(chē)維修與保養(yǎng)(2019年7期)2020-01-06 03:30:42
汽車(chē)維護(hù)與修理(2016年10期)2016-07-10 08:17:41
鐵道通信信號(hào)(2016年4期)2016-06-01 12:10:19
電測(cè)與儀表(2016年5期)2016-04-22 01:13:50
汽車(chē)維修與保養(yǎng)(2015年12期)2015-04-18 07:51:49
汽車(chē)維修與保養(yǎng)(2015年8期)2015-04-17 03:32:52
汽車(chē)維修與保養(yǎng)(2015年6期)2015-04-17 03:31:50
汽車(chē)維修與保養(yǎng)(2015年7期)2015-04-17 02:12:40
汽車(chē)維修與保養(yǎng)(2015年2期)2015-04-17 01:30:34
汽車(chē)維護(hù)與修理(2015年2期)2015-02-28 12:15:39
