軍用測量／測試設備將向通用、靈活方向發展

目前，芯片與總線的尺寸越來越小、傳輸速度越來越快，這給軍事電子系統與裝備測試帶來不小的麻煩。為了與最新的亞微米電路技術保持同步，測試與測量設備技術面臨著嚴峻的挑戰。