【關鍵詞】SMD;PPTC;熔斷合金;大電流
目前,國內手機廠商和平板電腦廠家陸續推出大功率充電設備,傳統的SMD PPTC由于滿足大功率設備需要大幅增加封裝尺寸,故在大功率設備上使用較少。
上海維安電子PPTC產品的制作工藝有焊金屬片、焊引線塑料殼封裝等,其中PCB加工工藝制作的體系的封裝規格有0603、0805、1206、1210、1812、2920等,公司自2019年成功開發出Coating產品,極大地提升了產品的環境性能以及多次充放電性能,但是隨著客戶推出的設備功率越來越大,傳統的Coating產品發展也已達到瓶頸,在封裝尺寸未大幅增加的情況,Wayon目前能做到40W充電的PTC需要做到7.0*3.5mm(2512封裝)。在后續的66W及以上功率的設備中處于空白領域。
本文對大電流應用的場景中如何采用Wayon的產品進行了描述,探討該方案在大電流應用的實際效果[1]。
(一)40W產品結構


從圖1和圖2可以看出,目前SMD PPTC產品要做到40W充放電,尺寸需要做到2512封裝(7.0*3.5mm)。
(二) 40W產品芯片面積

40W項目如果充電電流繼續上升,如要做50W(10A充放電)或者66W(13A充放電)的保護器件,根據發熱功率=I2*R得出13A保護器件的發熱功率=13*13*R,10A保護器件的發熱功率約為10*10*R,而8A保護器件的發熱功率為8*8*R,得出10A保護器件的發熱功率為8A保護器件的1.56倍,13A保護器件的發熱功率為8A保護器件面積的2.64倍,通過以上得知如需滿足10A或者13A的過流保護器件的芯片面積以目前的方案來看,PTC在原材料的電阻率無明顯降低的情況下,只能繼續增加PTC的芯片面積,但是目前的手機保護板尺寸無法繼續增大,導致沒有繼續增加過流保護器件封裝尺寸的空間。
(三)大電流保護元件方案
從目前的情況看,單純使用PTC方案在40W以上的項目難度較大,我們借鑒了合金熔斷電阻可以做到極小的體積滿足大電流的使用,故設計了一個如下圖示的組合保護元件,先采用常規的SMD貼片生產工藝,制作一個常規的SMD PPTC,但上端焊盤需要同步增大,然后在上端焊盤上焊接一個熔斷合金,這樣就制作成了一個大電流通流能力的組合器件,組合器件的示意圖如圖3,組合元件的工作原理如圖4。


針對上述保護組件,我們驗證了采用10A的PTC加20A的熔斷合金組合。并對此進行了測試驗證,主要進行了70℃下的Imax測試和70℃下的13A充放電循環測試,測試如下:
Imax測試方法:在70℃環境中,該保護組件通電20A,保持30min后,每3min上升0.1A,直至PTC發生Trip,記錄為Imax1,將Trip后的組件繼續在70℃環境中,通電8A,保持30min后,每3min上升0.1A,直至PTC 發生Trip,記錄為Imax2;

從上述的測試數據可以看出,熔斷合金+PTC的通流能力應該≥30A,實際測試通流能力為28A左右,原因為通過PTC和熔斷合金的電流分流不同,導致通流能力為略低于10+20A。

充放電測試方法:在70℃環境中,該保護組件充電20A*10min,休息10min,放電20A*10min,休息10min,為1個循環,共測試1000循環,模擬客戶的手機快充;

從上述測試結果看,該保護組件在10A的PTC和20A的熔斷合金的組合使用下,其最大通流能力達到28A@70℃,亦可以滿足70℃條件下20A的充放電測試,相當于100W條件使用。
目前該方案的弊端被客戶正常使用時,保護組件可以正常工作,一旦回路中發生故障電流,熔斷合金燒毀,后續只能通過PTC保護方案,保護組件恢復到單PTC保護方案,則組件只能降流使用,我們也已經同部分手機廠商進行溝通,如出現上述情況,僅需在程序中設置一個溫度監測程序,如在手機充電或者放電過程中監測到保護板溫度大于90℃時啟動降低電流的程序即可實現,此時相當于只有PTC正常工作,熔斷合金已經失效,如下圖5。

該方案同單PTC保護方案對比,在相同封裝尺寸的情況下通電流能力有極大提升,可以滿足目前市場上的一些高端旗艦手機的大電流充電方案,但是一旦熔斷合金因為回路電流異常燒毀后,后續只存在單PTC方案保護,通流能力將下降,但是和常規的一次性保險絲方案相比,熔斷合金燒毀后還可以進行小功率的充放電,同時移動設備還可以正常工作。

針對上述測試數據,我們結合手機廠商的實際應用,可以考慮采用不同規格的PTC和不同規格的熔斷合金并聯,滿足實際應用,例如可以采用10A的PTC和20A的熔斷合金并聯,生產滿足100W(20A)電池的保護器件,采用10A的PTC和10A的熔斷合金并聯,生產滿足66W(13A)的保護器件,并且該方案結構簡單,不改變手機電池保護板焊盤尺寸,即實際生產過程中客戶的保護板尺寸也無需更改,且組裝工藝采用傳統的SMT貼板工藝即可。