一種考慮橡膠老化機理的電連接器密封可靠性預計方法

申請公布號：CN 116227143A

申請公布日：2023月6月6日

申請人：哈爾濱工業大學

發明人：徐 樂、陳東旭、王紫陽等

本發明介紹了一種考慮橡膠老化機理的電連接器密封可靠性預計方法。該方法主要考慮因橡膠老化導致的電連接器密封失效模式，通過分析電連接器在溫度、濕度、鹽霧等外部環境應力作用下橡膠密封件發生壓縮永久變形直至密封性功能失效的內在原因及其機理，建立反映電連接器在失效誘因（包括工作應力、環境應力、時間應力等）作用下密封性功能失效規律的失效物理模型，實現電連接器密封可靠性的準確預計。本發明解決了傳統可靠性預計方法難以量化產品材料、結構、工藝數據波動對產品質量可靠性的影響的問題。