“微波探測成像技術及應用”專題前言

苗俊剛

（北京航空航天大學，北京 100091）

微波探測成像技術已經成為人類拓展自身認知世界能力的重要手段.電磁場與目標相互作用產生的目標散射場蘊含了目標外形、材料、姿態等重要物理信息，可用于目標特性的精確獲取和識別.作為探測媒介的高精度、高分辨率的微波探測成像技術，是電磁場與微波技術領域的一個研究熱點.微波頻段（包括毫米波、太赫茲）電磁波對大多數介質的穿透性好，在復雜環境下的抗干擾能力強，加之其非電離輻射對人體的安全性，非接觸的探測模式和高分辨率的探測性能，使微波成像技術在電子信息、航空航天和安全防衛等領域有著廣闊的應用前景.

為了展示并及時總結我國在微波毫米波成像領域的最新研究成果，《電波科學學報》以 “微波探測成像技術及應用”為專題出版了這期專題，旨在為從事微波探測成像及相關領域的科學家和工程師提供一個學術研討平臺，交流和分享微波、毫米波和太赫茲頻段探測與測試、成像方法與理論、處理新方法與算法、應用技術等領域的心得.本期專題得到了國內同行和專家學者的大力支持，所收論文嚴格按照審稿流程和要求進行了同行評議，幾經復審修改，最后經學報編委會終審，錄用了8篇論文.

所錄用的8篇論文涵蓋了微波探測成像技術及應用的主要研究領域，包括無源毫米波三維成像、深度學習數據處理、穿墻雷達成像、數字編碼超材料、稀疏MIMO陣列、太赫茲光譜成像等前沿學術成果.期望通過此次總結、交流和討論，本期專題會對我國微波探測成像的研究起到積極的推動作用.

感謝《電波科學學報》主編董慶生先生和編輯部主任趙紅梅女士為專題出版所付出的辛勤工作，感謝參與專題評審的編委和審稿專家為保證專題論文質量所付出的努力.專題定有不足之處，敬請廣大讀者批評指正！