譚靈 高楊
(1.西安存濟口腔醫院兒童口腔科,陜西 西安 710000;2.陜西省延安市安塞區人民醫院口腔科,陜西 延安 717400)
在唇腭裂疾病中,單側完全性唇腭裂較為常見。Demirjian法是當前臨床對牙齒發育成熟以及鈣化情況進行判斷的一種常用方式,在法醫學、人類學以及口腔正畸學等方面被廣泛應用[1-3]。由于當前臨床在單側完全性唇腭裂男性病患牙齒發育方面的研究較少,因此需要以此為切入點開展深入分析。本次研究選擇2018年1月至2021年12月期間90例單側完全性唇腭裂病患以及90例非唇腭裂者進行對比分析。報告如下。
1.1一般資料 研究群體為本院接收的單側完全性唇腭裂病患90例,研究啟動于2018年1月,完成在2021年12月,將其當作試驗組。另選擇同時期本院90例非唇腭裂男性當作常規組。試驗組與常規組中,平均年齡水平依次是(10.29±1.38)歲、(10.35±1.42)歲;平均體質量依次是(28.26±1.52)kg、(28.29±1.56)kg。針對本次研究內一般數據選擇統計學軟件實施分析,計算結果得出(P>0.05),提示該種分組形式具有可行性。納入、排除標準見相關文獻[4-6]。
1.2研究方法 選擇OC200D型數字化曲面斷層X射線機(采購自蘭州科邁醫療設備有限公司)對兩組進行全頜曲面斷層攝片。合理設定各項掃描參數,其中攝影時間在0秒至5秒之間,管電流是10 mA,管電壓在10kv至90kv之間,管焦點是1.0×1.0。下頜支架臂經地面起調升范圍在1360 mm至1705 mm之間,另外下頜支架前后距離和前額固定架能夠通過手動方式調節,范圍在-15 cm至+15 cm之間。暗盒能夠上下移動,并校對中心線。頭部支撐手把調節正側攝影位置;鼻部支撐棒將鼻根部固定;耳部指示手棒手把將頭部固定;眼窩下支點指針提示解剖位置。觀察項目為:(1)對比試驗組病患裂隙側與非裂隙側下頜牙齡。(2)對比兩組下頜牙齡。(3)對比試驗組病患裂隙側與非裂隙側牙齒成熟指數。(4)對比兩組牙齒成熟指數。

2.1對比試驗組病患裂隙側與非裂隙側下頜牙齡 在90例試驗組病患中,裂隙側下頜平均牙齡是(9.42±1.31)年,非裂隙側下頜平均牙齡是(10.21±1.50)年,裂隙側下頜平均牙齡短于非裂隙側(t=4.345,P<0.05)。
2.2對比兩組下頜牙齡 常規組下頜牙齡長于試驗組(P<0.05)。見表1。

表1 兩組下頜牙齡差異(年)
2.3對比試驗組病患裂隙側與非裂隙側牙齒成熟指數 在90例試驗組病患中,裂隙側下頜牙齒平均成熟指數是(83.65±7.25),非裂隙側下頜牙齒平均成熟指數是(86.90±6.98),裂隙側下頜平均成熟指數低于非裂隙側(t=3.538,P<0.05)。
2.4對比兩組牙齒成熟指數 常規組牙齒成熟指數高于試驗組(P<0.05)。見表2。

表2 兩組牙齒成熟指數差異
唇腭裂屬于先天性口腔頜面部發育畸形,通常情況下,在胎兒發育早期,于上顎以及嘴唇部位會出現裂口,該種裂口一般會在六周至十一周內融合,進而形成完整的口腔和嘴唇[7]。但是若裂口無法正常會和,則會形成不同程度的唇腭裂。其中單側完全性唇腭裂屬于常見的唇腭裂類型,其裂隙主要是從懸雍垂至門齒孔,之后斜向外側,通常在單側切牙部位和前頜骨處分離[8]。當前臨床對唇腭裂患兒一般在早期開展外科手術治療,手術后瘢痕組織會對上頜發育產生影響,進而影響牙齒發育情況[9]。
通過開展本次研究后發現,在90例試驗組病患中,裂隙側下頜平均牙齡是(9.42±1.31)年,非裂隙側下頜平均牙齡是(10.21±1.50)年,非裂隙側下頜平均牙齡長于裂隙側,差異有統計學意義(P<0.05)。常規組下頜平均牙齡是(10.99±1.65)年,明顯長于試驗組,差異有統計學意義(P<0.05)。在90例試驗組病患中,裂隙側下頜牙齒平均成熟指數是(83.65±7.25),非裂隙側下頜牙齒平均成熟指數是(86.90±6.98),非裂隙側下頜平均成熟指數高于裂隙側,差異有統計學意義(P<0.05)。常規組下頜牙齒成熟指數是(89.08±7.11),顯著高于試驗組,差異有統計學意義(P<0.05)。針對研究結果開展進一步分析,對于唇腭裂病患而言,其一般存在牙頜畸形情況,可出現牙槽嵴高度高低不一、牙齒先天缺失、牙列擁擠以及裂隙側反頜等表現[10]。
綜上,男性單側完成性唇腭裂病患下頜牙齒發育遲緩。