雜散光抑制與評估技術發展與展望（特邀）

王虎，陳欽芳，馬占鵬，2，閆昊昱，2，林上民，2，薛要克，4，5

（1 中國科學院西安光學精密機械研究所，西安 710119）

（2 中國科學院大學，北京 100049）

（3 中國科學院空間精密測量技術重點實驗室，西安 710119）

（4 中國科學院青年創新促進會，北京 100037）

（5 北京航空航天大學，北京 100191）

0 引言

雜散光是指由進入光學或電子光學系統的部分輻射所引起的在該系統像面上的有害光照度［1］，包括來自該系統內部或外部的輻射。雜散光的存在會降低像面的對比度和信噪比，嚴重時目標信號可能會被雜散光完全湮沒，造成光學成像或者探測的失效［2-6］。實際光機系統的雜散光是由多種因素共同造成的，分析過程比較復雜，故針對不同探測要求和使用環境，需要考慮不同種類的雜散光。

雜散光按照來源不同可分為三類：視場外雜散光、視場內雜散光和內部熱輻射雜散光［7-10］。

1）視場外雜散光是指雜散光光源來自光學系統視場外部，如太陽、地氣光（地球大氣散射的太陽光）等進入系統，經系統內部構件（光學表面和機械表面）的多次反射、折射、散射以及衍射到達探測器的非成像光線。此類雜散光廣泛存在于各類光學儀器中，目前相關研究較多。對于諸如星敏感器等對暗弱恒星目標探測的光學載荷則主要分析視場外雜光。

2）視場內雜散光一方面是由于光學元件表面的粗糙度、表面疵病、表面污染等帶來的殘余反射、散射、衍射及結構件表面散射導致部分參與成像的光線在整機系統內部以非正常路徑到達系統像面，形成光噪聲的非成像光線。……