淺析如何通過專利分析提高專利檢索能力

龐爾江

國家知識產權局專利局專利審查協作天津中心，天津 300304

0 前言

專利法第二十二條規定：授予專利權的發明和實用新型，應當具備新穎性、創造性和實用性，也就是通常所說的“三性”，這是判斷一個專利能否授權的主要標準。為了統一審查標準，盡量避免審查員主觀因素的影響，設定了“本領域的技術人員”這一概念。“本領域的技術人員”不僅用于創造性的判斷，也用于新穎性和實用性的判斷，新穎性主要是隱含公開的判斷，實用性主要是再現性的判斷，可見“本領域的技術人員”貫穿于整個“三性”的評判。

《專利審查指南（2010）》第二部分第四章第2.4節定義：本領域的技術人員是一種假設的“人”，假定他知曉申請日或者優先權日之前發明所屬技術領域所有的普通技術知識，能夠獲知該領域中所有的現有技術，并且具有應用該日期之前常規實驗手段的能力，但他不具有創造能力；如果所要解決的技術問題能夠促使本領域的技術人員在其他技術領域尋找技術手段，他也應具有從該其他技術領域中獲知該申請日或優先權日之前的相關現有技術、普通技術知識和常規實驗手段的能力[2]。雖然《專利審查指南（2010）》已經明確定義了本領域的技術人員，但是在實際審查過程中，如何站位本領域的技術人員客觀地評價專利申請的“三性”依然是一個焦點問題，這就需要審查員不斷地積累本領域的專業知識，對審查領域的專利進行分析統計，不斷接近本領域的技術人員的要求。

1 專利分析

專利分析主要是在整理、分析、比較、歸納一定時空范圍內某技術領域相關專利文獻的基礎上，以典型技術為支撐，描述該領域的主要技術路線、技術發展脈絡和趨勢、主要申請人和發明人等信息[3]。對于審查員而言，專利分析應該以審查領域，特別是以分類號為基礎進行，這樣逐漸將審查領域的每個大組進行分析，逐漸接近本領域的技術人員的要求。

專利分析主要可以從專利申請總量趨勢、申請人專利申請趨勢、申請人申請量、發明人、技術路線以及本領域常用關鍵詞等方面進行[4]。通過專利申請總量分析可以分析該技術領域的技術發展趨勢；通過申請人專利分析可以確定該領域的龍頭企業，也可以分析各個企業、高校院所、科研機構的技術實力；通過對發明人分析可以明確某些高校、科研機構的老師的主要研究方向，并通過發明人進行追蹤檢索；通過技術路線分析可以明確某項技術的發展脈絡；通過關鍵詞的統計分析可以方便在檢索時進行擴展，也可以在專利申請本身撰寫不夠清楚時準確提取關鍵詞。

通過專利分析，審查員可以在專利檢索過程中準確地理解申請人想要表達的意思，并且適當擴展關鍵詞，站位本領域技術人員理順發明構思，進而提高審查效率。通過專利分析，也可以使審查員更加了解審查領域，并且在評述過程中避免錯誤使用公知常識以及技術啟示的誤判。本文將結合實際案例，淺析如何通過專利分析提高審查員的檢索能力。

2 案例分析

2.1 對申請人進行分析

申請號：201310540803.1[5]

發明名稱：基板檢查裝置系統及基板檢查方法

發明構思：在將電子部件裝配到印刷電路板之前，能夠執行用于檢查焊條是否正常涂布于印刷電路板的焊盤區域的焊膏檢查（SPI）工序，并且，在電子部件裝配到印刷電路板之后，能夠執行用于檢出上述電子部件是否正常焊接于印刷電路板的各種類型的不良問題的自動光學檢測（AOI）工序。以往的SPI工序主要通過三維形狀測定完成，AOI工序主要通過二維形狀測定完成，兩種方法相互獨立地執行。為了解決上述問題，本發明將SPI工序和AOI工序的檢測結果結合起來綜合判斷基板焊接是否合格，提高了檢測的效率和精度。

檢索思路：本申請權利要求中均采用“第一裝置”、“第二裝置”、“第三裝置”等詞限定，并且由于國外申請大多是直接翻譯而來，關鍵詞的提取較為困難，采用關鍵詞檢索噪聲較大，所以可以通過相關領域的申請人縮小檢索范圍。檢索之前，通過對分類號G01B11/+（以采用光學方法為特征的計量設備）進行統計分析，特別是對申請人進行了統計，得出在該領域重要的申請人有日本的三豐株式會社、歐姆龍公司，美國的康耐視、施耐寶、Hunter Engineering Company、AT&T，以及中國的大連理工大學、華南理工大學等。通過對主要的申請人進行檢索，并結合關鍵詞：基板、電路板、PCB以及焊膏、焊錫、焊糊，比較快速地檢索到了公開號為TW201231960[6]（焊錫檢查方法和基板檢查系統以及焊錫檢查機）的專利申請，采用該對比文件評述了權利要求的新穎性或創造性。

2.2 對技術路線進行分析

申請號：201410498902.2[7]

發明名稱：一種隧道仰坡土體滑移開裂監測儀器及其方法

發明構思：隧道仰坡土體滑移開裂會影響造成災害事故，本申請檢測儀器包括前點固定裝置和后點固定裝置；前點固定裝置包括固定桿，所述固定桿的一端通過球形閥與測量儀連接；后點固定裝置包括固定桿，固定桿的中部開槽，卷尺安裝于所述槽內，固定桿靠近卷尺的一端連接有球形閥，球形閥的頂部設有定位銷；前點固定裝置的測量儀與后點固定裝置的卷尺的尺體連接。可用于隧道工程的仰坡土體滑移開裂的監測工作，及時掌握施工過程中仰坡土體的變形規律，有利于實際隧道工程的安全施工。

檢索思路：本申請主要涉及土體滑移開裂監測領域，屬于位移測量，而且申請也較多，進行專利分析后可以方便今后的審查。進行專利分析時，主要擴展了分類號和關鍵詞：G01B5/02、G01B5/04、G01B7/02、G01B7/04、G01B21/02、G01B21/06、滑坡、開裂、裂縫、滑移、泥石流、塌方、巖移、土體、山體、隧道、涵洞、峒室、仰坡、邊坡、巷道、坑道。通過對專利的引用次數、申請時間等分析得出，土體滑移開裂監測儀器主要經過了重物懸掛和刻度盤讀數配合、重物懸掛和位移傳感器讀數配合以及收斂計3個階段，如圖1所示。其中，圖1（a）采用重物懸掛拉伸，通過刻度盤讀數，體積大且安裝復雜，讀數也較為不便；圖1（b）采用重物懸掛拉伸，通過位移傳感器讀數，較之前方便；圖1（c）采用收斂計測量，安裝簡單，讀數方便。

由于收斂計使用簡單，測量精確，申請量逐年增加，并且針對收斂計做了許多改進，主要包括：直接讀數、采用卷尺和機械讀數相配合、采用卷尺和數碼讀數相配合，以及采用卷尺和電磁位移傳感器相配合等類型，如圖2所示。其中，圖2（a）直接讀數，結構簡單；圖2（b）卷尺和機械讀數配合，讀數簡單，但使用壽命較低，讀數精度較低；圖2（c）卷尺和數碼讀數配合，讀數簡單，讀數精確；圖2（d）卷尺和電磁位移傳感器配合，讀數簡單，讀數精確，但成本較高。

通過專利分析，得出了土體滑移開裂監測領域的常用儀器及其技術路線，分析可知，本申請屬于收斂計的一種變形，并且屬于卷尺和數碼讀數相配合的收斂計，可以大大縮短檢索時間，并且當再次出現類似案件時，可以直接依據之前專利分析的內容進行檢索，不僅可以提高檢索效率，而且能夠站位本領域的技術人員，對申請針對現有技術的貢獻做出較為準確的判斷。

2.3 對關鍵詞進行統計

申請號：201410189782.8[8]

發明名稱：一種檢測裝置和方法

發明構思：薄膜場效應管（TFT）產品型號多，為了更好區分這些產品，在玻璃面板上制作一個唯一的標識ID，本申請請求保護一種能夠自動檢測標識ID位置的裝置和方法。

檢索思路：本申請主要涉及的是利用光學元件對基板上的標記位置進行檢測的裝置和方法，光學部件較多，且光學元件的位置不同，光路也不同，所以沒有對部件的位置關系做檢索，而是直接對功能以及關鍵部件做檢索。本申請主要是采用圖像處理的方法檢測基板上的標記位置，通過對關鍵詞進行統計分析，主要采用關鍵詞——“圖像”、“定位”、“位置”、“距離”、“標記”、“標志”、“記號”、“ID”進行檢索。而對光路的部件進行分析可知，采用分光片不僅可以起到改變光傳播方向的作用，而且可以減少對圖像信號的干擾，所以將“分光”作為關鍵詞；圖像分析中，相機等設備屬于必不可少的部件，進一步擴展關鍵詞——“照相”、“攝像”、“圖片”、“照片”、“相機”、“CCD”。檢索到了公開號為CN1419275A[9]（標記位置檢測裝置）的對比文件。

3 結束語

本文探討了專利分析對專利檢索的促進作用，在平時的審查工作中，審查員需要不斷積累本領域的技術知識，通過專利分析，逐漸將所審查的分類號進行統計分析，提高自己的審查能力，盡量接近“本領域的技術人員”的要求。通過對專利申請總量趨勢、申請人專利申請趨勢、申請人申請量、發明人、技術路線以及本領域常用關鍵詞等方面進行分析，從而達到站位本領域的技術人員，做出客觀、公正的判斷。