許冬保
(江西省九江市第一中學(xué) 332000)
薄膜光學(xué)是20世紀(jì)60年代初興起的一門應(yīng)用光學(xué)技術(shù).增透膜、高反射膜等均是薄膜干涉.物理光學(xué)的發(fā)展推動(dòng)了科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步,而技術(shù)應(yīng)用又反過(guò)來(lái)促進(jìn)物理光學(xué)的發(fā)展.應(yīng)用類問(wèn)題與日常生活以及生產(chǎn)實(shí)踐密切相關(guān).該類問(wèn)題能有效地考查學(xué)生運(yùn)用所學(xué)知識(shí)解釋生活中的現(xiàn)象、解決生活實(shí)踐中的具體問(wèn)題的能力.
在日常生活中,我們常見(jiàn)到在陽(yáng)光的照射下,肥皂膜、水面上的油膜以及許多昆蟲(chóng)(如蜻蜓、蟬、甲蟲(chóng)等)的翅膀上呈現(xiàn)彩色的花紋,這是光波經(jīng)薄膜兩表面反射后相互疊加所形成的干涉現(xiàn)象,稱為薄膜干涉.
如圖1所示,薄膜折射率為n,置于折射率為n1的介質(zhì)中.入射光i以入射角θ斜射入薄膜中.在左界面上,一部分光(r1)反射回原介質(zhì)中去.另一部分進(jìn)入介質(zhì),在右界面反射并通過(guò)左界面射出(r2).r1、r2兩束光是相干的,能產(chǎn)生干涉條紋.

圖1
1.2.1 等傾干涉
如圖2所示,薄膜各處的厚度相同.傾斜度相同的光束經(jīng)薄膜反射形成同一級(jí)干涉條紋,傾斜度不同的光束經(jīng)薄膜反射形成干涉圖樣,這類干涉稱為等傾干涉.

圖2


1.2.2 等厚干涉
如圖3所示,平行光由空氣斜射入到折射率為n的介質(zhì)中,入射角為i1,折射角為i2.光波aa2、cc1光程差(考慮半波損失)為

圖3

C處對(duì)應(yīng)薄膜的厚度為h,依照上述同樣的分析,可得


上式中k=0,1,2,…
若薄膜很薄,且兩個(gè)表面的夾角很小,則
上式表明:h相同的各點(diǎn)在同一級(jí)條紋上,h愈大的點(diǎn),干涉級(jí)數(shù)k愈高.
薄膜各處的厚度不同,同一厚度的光束經(jīng)薄膜反射形成同一級(jí)干涉條紋,厚度不同的光束經(jīng)薄膜反射形成干涉圖樣,這類干涉稱為等厚干涉.
如圖4所示,G1、G2為兩片疊放在一起的平板玻璃,其一端的棱邊相接觸,另一端被一直徑為D的細(xì)絲隔開(kāi),故在G1的下表面和G2的上表面之間形成一空氣薄層,叫做空氣劈尖.若用單色平行光垂直射向劈尖,則自空氣劈尖上、下兩面反射的光相互干涉.

圖4

通過(guò)劈尖空氣干涉原理,可定量得到被檢測(cè)細(xì)絲的直徑與標(biāo)準(zhǔn)細(xì)絲直徑之間的差異值,也可精確測(cè)量固定樣品的熱膨脹系數(shù).
例1 (2011年“卓越”自主招生試題)利用光的干涉可以測(cè)量待測(cè)圓柱形金屬絲與標(biāo)準(zhǔn)圓柱形金屬絲的直徑差(約為微米量級(jí)),實(shí)驗(yàn)裝置如圖5所示.T1和T2是具有標(biāo)準(zhǔn)平面的玻璃平晶,A0為標(biāo)準(zhǔn)金屬絲,直徑為D0;A為待測(cè)金屬絲,直徑為D;兩者中心間距為L(zhǎng).實(shí)驗(yàn)中用波長(zhǎng)為λ的單色光垂直照射平晶表面,觀察到的干涉條紋如圖5所示,測(cè)得相鄰條紋的間距為ΔL.

圖5

(2)若輕壓T1的右端,發(fā)現(xiàn)條紋間距變大,試由此分析D與D0的大小關(guān)系.
因?yàn)榉瓷涔庀嘞干涔饧訌?qiáng),這樣的膜稱為增透膜或稱之為消反射層.
例2 如圖6所示,一個(gè)玻璃透鏡的一面鍍了一薄層氟化鎂(MgF2),以便減弱從透鏡表面的反射,MgF2的折射率為1.38;玻璃鏡的折射率為1.50.若光幾乎是垂直于透鏡表面入射的.求至少為多厚的鍍膜能消除可見(jiàn)光譜中間區(qū)域的光(λ=550nm)的反射?

圖6
登山運(yùn)動(dòng)員和滑雪者戴的眼鏡片上常鍍有高反射膜,目的是增強(qiáng)對(duì)某一光譜區(qū)內(nèi)的反射能量,同時(shí)使透射光減弱.實(shí)際應(yīng)用中,在有關(guān)設(shè)備鏡頭的表面,根據(jù)需要還可以鍍制各種性能的多層高反射膜、彩色分光膜、冷光膜以及干涉濾光片等.
例3 在一折射率為n0的玻璃基片上均勻地鍍一層折射率為n的透明介質(zhì)膜.今使波長(zhǎng)為λ的單色光由空氣(折射率取1)垂直射入到介質(zhì)膜表面上,若想使在介質(zhì)膜上、下表面反射的光干涉增強(qiáng),已知n0>n>1.求介質(zhì)膜至少應(yīng)多厚?
在磨制光學(xué)元件時(shí),必須檢驗(yàn)元件表面的質(zhì)量.劈尖空氣干涉現(xiàn)象為檢驗(yàn)元件表面質(zhì)量提供了依據(jù).精密度可達(dá)到0.1μm左右.
例4 等厚干涉常被用來(lái)檢測(cè)工件的表面平整度.在經(jīng)過(guò)加工的工件表面放一塊薄光學(xué)平板玻璃,如圖7所示,平板玻璃和工件表面的夾角為θ(θ很小).用波長(zhǎng)為λ的單色光垂直照射工件.求
(1)垂直于工件表面觀測(cè)時(shí)干涉條紋的間距:
(2)若觀測(cè)到如圖8所示的干涉條紋畸變,則說(shuō)明工件表面存在的缺陷是什么?

圖7 圖8
綜上,文中比較系統(tǒng)地闡述了物理光學(xué)中關(guān)于薄膜干涉形成的原因、產(chǎn)生明暗條紋的條件、條紋的物理特征以及在生活實(shí)踐中的應(yīng)用.考慮到知識(shí)的嚴(yán)密性,文中對(duì)半波損失及光程差兩個(gè)概念,沒(méi)有回避,旨在拓寬學(xué)生學(xué)習(xí)的知識(shí)面,幫助學(xué)生掌握較為全面的知識(shí)體系、培養(yǎng)嚴(yán)謹(jǐn)?shù)乃季S習(xí)慣、發(fā)展關(guān)鍵能力,進(jìn)而提升學(xué)科核心素養(yǎng).
干涉中的半波損失,對(duì)許多問(wèn)題的分析沒(méi)有什么影響,只是亮條紋與暗條紋的位置互換而已,對(duì)干涉條紋的寬度、疏密等沒(méi)有影響.
干涉中的光程差,定義為光行走路程與介質(zhì)折射率之乘積,但很多問(wèn)題中,薄膜為空氣薄膜,光行走的路程即光程;路程差即光程差.