XRF能譜多重Sallen-Key平滑濾波方法及其在大米鎘含量分析中的應用

陳 偉 周建斌 方 方 洪 旭 萬文杰,3 喻 杰,3 王懷平

1（成都工貿職業技術學院信息工程學院 成都 611731）

2（成都理工大學核技術與自動化工程學院 成都 610059）

3（四川新先達測控技術有限公司 成都 610052）

X射線熒光光譜（X-Ray Fluorescence，XRF）分析作為一種無損檢測技術，技術特點上適合于樣品中主、次、痕量多元素的同時測定，方便用于現場、原位和活體分析，已廣泛應用于地質、礦石、冶金、考古、生物、生命、環境、材料、毒性物品等領域［1］。在測定痕量成分時，由于背景值的影響，特征峰容易部分或全部被掩蓋，給核素信息提取帶來困難。XRF背景值產生的原因如下：其一是由樣品引起，原級X射線譜在樣品中產生康普頓散射和瑞利散射，其強度隨樣品成分而發生變化；其二是樣品產生的射線與儀器相互作用引起；宇宙射線、樣品中的放射性核素與電子線路也可產生背景值［2?5］。

通過改進前端探測方法和后期譜線處理技術可以提高XRF對痕量信息的處理能力。文獻［6］應用靶材的康普頓散射線作內標，用能量色散X熒光分析（Energy-Dispersive X-ray Fluorescence，EDXRF）譜儀測定了從鈦到鐵和從鈀到鋇的痕量核素。文獻［7］通過對配有三維偏振光學的EDXRF光譜儀的測量條件進行優化，完成了大豆樣品中Mg、P、Cl、K、Cu等微量元素的測定。文獻［8］利用XRF分析方法結合干灰化樣品前處理方法研究了不同品牌大米中微量元素的含量，同時用毛細管X光透鏡聚焦的微束X射線熒光掃描了單粒大米中多元素的分布。文獻［9］采用粉末壓片制樣，用波長色散X射線熒光光譜法對大米中的微量元素含量進行測定，討論了各目標元素測量條件，并運用經驗系數法和散射射線作內標對基體效應進行校正。……