數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)應(yīng)用

葉敏軍

（杭州新源顯示技術(shù)有限公司 浙江省杭州市 310000）

在集成電路技術(shù)的應(yīng)用下，在制造及設(shè)計(jì)環(huán)節(jié)操作流程變得更加復(fù)雜，這要求集成電路測(cè)試也應(yīng)得到改善，通過對(duì)數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)進(jìn)行有效應(yīng)用，使集成電路能夠發(fā)揮出更好的作用。當(dāng)前，數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)的發(fā)展能夠?yàn)殡娐樊a(chǎn)業(yè)的運(yùn)行提供保障，使相關(guān)技術(shù)的水平提高，為更多的產(chǎn)業(yè)帶來幫助。因此，應(yīng)對(duì)數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)進(jìn)行分析，采取有效措施加強(qiáng)測(cè)試技術(shù)應(yīng)用效果。

1 數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)

數(shù)字集成電路系統(tǒng)中包括了組合邏輯及寄存器，分析發(fā)現(xiàn)是由基本門組成的一系列函數(shù)，在輸出的過程中，可完成邏輯運(yùn)算。在時(shí)序電路方面，包括了基本門、存儲(chǔ)元件用例等。時(shí)序電路的穩(wěn)態(tài)輸出與輸入存在聯(lián)系，也與過去的輸入形成的狀態(tài)之間存在聯(lián)系。在時(shí)序電路中，可將具體的結(jié)果進(jìn)行暫時(shí)存儲(chǔ)，便于下一次運(yùn)算。集成電路測(cè)試系統(tǒng)能夠測(cè)試微處理器、半導(dǎo)體存儲(chǔ)電路、專用電路，具有高性能的測(cè)試系統(tǒng)能夠進(jìn)行功能測(cè)試、交流參數(shù)測(cè)試、直流參數(shù)測(cè)試。目前的集成電路測(cè)試系統(tǒng)中包括了較多的部分，例如數(shù)字計(jì)算機(jī)、測(cè)試功能部件、DC/AC 測(cè)量子系統(tǒng)、測(cè)試夾具等。在基本測(cè)試系統(tǒng)中，包括了測(cè)試計(jì)算機(jī)子系統(tǒng)、測(cè)試子系統(tǒng)及測(cè)量子系統(tǒng)。其中各部分系統(tǒng)的詳細(xì)內(nèi)容如下。

1.1 測(cè)試計(jì)算機(jī)子系統(tǒng)

測(cè)試計(jì)算機(jī)子系統(tǒng)中包括所有計(jì)算機(jī)的能力及設(shè)備，可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試及相應(yīng)的功能，其中還包括了系統(tǒng)控制器、主存儲(chǔ)器、圖形發(fā)生器、供電電源以及數(shù)據(jù)接口等部分[1]。……