莫慧芳,陳 瑞
(廣州科技貿易職業學院,廣東 廣州510402)
在一些高潔凈環境應用要求的系統和實驗裝置中,環境污染因素將嚴重影響其壽命和可靠性。高潔凈環境應用要求的系統和實驗裝置受到污染后,會使實驗系統性能大幅衰減,會使實驗結果的準確性受到影響。在航天應用方面熱控系統由于太陽吸收率增大而使航天器溫升過高,熱輻射材料受空間高速污染物沖擊而造成在軌承受能力降低,導致航天器使用功能下降,引起航天器失效。因此,監測航天器敏感表面的污染量十分重要。
分子污染在軌監測儀由測量傳感器探頭部分、測量控制電路和上位機三部分組成。其中測量傳感頭由頻率約15 MHz 的測量晶體和參考晶體、帕爾貼熱換能器和溫度傳感器組成。測量控制電路由頻率測量電路單元、電源模塊、溫度測量與控制模塊、通信接口等部分組成[1]。在軌監測儀組成如圖1 所示。

圖1 監測儀組成框圖
選用壓電石英晶體作為微量分子污染物的探測元件。晶體兩面鍍上金屬材料作為電極,由諧振電路驅動,在兩電極之間形成一個與時間相關的電場,使晶體以一定的頻率振蕩,當污染物質在電極上沉積(質量增加)時,所有沉積的物質都將隨著晶體振蕩產生位移[2]。因此,由于質量的增加使晶體運動的頻率降低,通過監測晶體頻率變化來監測沉積質量的變化[3]。
系統要能準確測量晶體頻率的變化,測量精度需達到±1 Hz。為了消除環境因素導致的晶體頻率的變化,測量傳感頭的設計是關鍵。主要采取兩方面的措施:①通過兩個置于同一環境中的測量晶體和參考晶體,安裝不同的傳感器來消除環境變化引起的測量誤差;②通過帕爾貼換能溫度控制,使得晶體在測量溫度時,消除由溫度引起的晶體頻率變化誤差。測量傳感探頭結構如圖2 所示。

圖2 測量傳感探頭結構
常用的頻率測量方法主要有測頻法和測周期法兩種。測頻法就是在確定的閘門時間T內,記錄被測信號的變化周期數(或脈沖個數)N,則被測信號的頻率為:f=N/T。測周期法需要有標準信號的頻率f,在待測信號的一個周期T內,記錄標準頻率的周期數N,則被測信號的頻率為:f=N/T。這兩種方法的計數值會產生±1 個字誤差,并且測試精度與計數器中記錄的數值Nx或Ns有關。對于測量范圍比較大的頻率信號通常結合兩種方法來實現測頻。低頻通常采用測周期方法實現,高頻采用測頻法實現[4]。石英晶體微量天平中有兩個需要測量的傳感器頻率信號,一個是由測量晶體產生的頻率信號,另一個是由參考晶體產生的頻率信號,兩者的頻率信號都在15 Mhz 上下變化,被測量信號屬高頻信號[5]。本系統中采用的頻率測量框圖如圖3 所示。

圖3 頻率測量框圖
溫控系統由溫度傳感器、電熱元件及微控制器構成:溫度傳感器選用高精度鉑電阻元件,電熱元件采用帕爾貼半導體制冷器,微控制器采用AD 公司的新型數據采集芯片。與國內目前使用的地面分子污染監測設備相比,監測儀將溫控系統集成在探頭內部,由測溫精度優于±(0.10+0.002|T|)℃的鉑電阻實時測量探頭溫度(T為攝氏溫度)[6],并以該溫度值為基準,通過植入在微控制器內的PⅠD 算法控制制冷器的輸出功率,形成閉環的溫控系統,溫度測量與控制系統的結構如圖4 所示。

圖4 溫度測量與控制電路的結構框圖
監測儀具備了實時數據采集與處理的能力。計算機通過RS-485 接口與監測儀的控制器進行通訊,控制器為51 單片機,利用其通用異步收發傳輸器實現串行通信[7]。
在石英晶體微量天平的設計和研制過程中進行了各項性能測試,頻率電路和溫度控制部分是在軌污染監測器的核心,主要對頻率電路和探頭溫控性能進行測試,并給出相應的測試結果。
對15 MHz 監測儀的空載頻率輸出進行測試,用來檢測監測儀的頻率穩定性,以確定靈敏度是否滿足設計指標的要求。測試結果如圖5 所示。
從圖5 可以看到:在空載條件下,監測儀平衡后頻漂在±1 Hz/3 h 以內。幾臺監測儀的空載頻漂性能相近。根據理論計算的QCM 質量靈敏度,由圖5 的測試結果可知,室溫下15 MHz 監測儀可大約為2x10-9g/cm2Hz 監測精度。

圖5 監測儀空載測試
監測儀的測試性能需得到一定的保證,將置于真空室內監測儀溫度控制系統進行測試,看是否滿足設計要求[8]。監測儀的溫度隨時間變化曲線如圖6、圖7 所示,可見,溫控系統達到了較好的控溫目的。

圖6 監測儀探頭升溫曲線

圖7 監測儀探頭降溫曲線
石英晶體微天平已成功應用于某所生產的大型國家重點實驗裝置上。近年來的應用實踐證明,石英晶體微天平各項功能和技術指標均達到設計要求,具有體積小、安裝使用方便、測量數據穩定等特點,達到了國內領先水平。