貴金屬檢測用X射線熒光光譜儀專利技術分析

黃思敏

（山西省分析科學研究院，山西 太原 030006）

X射線熒光光譜儀專利技術是一種成熟的元素分析技術。通常X射線熒光光譜儀專利技術在應用的過程中具有簡單快速、準確度較高和精密度好的特點。X射線熒光光譜儀專利技術在不斷發展的過程中經歷了較長的時間，猜想、舞蹈表演等形式再現。從生產第一個X射線光譜儀到集成ED-XRF和WD-XRF機器，其不管是功能，還是結構方面，均取得了較大的進步。在這樣的背景下，熒光X光譜儀技術被廣泛應用于地質、礦石、冶金、考古和貴金屬的檢測中[1]。其中，X射線熒光光譜儀專利技術被應用于貴金屬檢測過程中，具有操作快捷和自動化程度高的優勢特點，所以成為了貴金屬組成成分分析過程中非常重要的檢測手段。為了能夠在不同形態和不同性質的貴金屬檢測過程中使用X射線熒光光譜儀專利技術，這樣X熒光光譜儀的結構則經歷了簡單到復雜的過程，分析速度也經歷了緩慢的、低的、高的。通過對專利XRF技術在貴族金屬檢測中的應用進行深入分析，改進了激勵模式和激勵源以滿足貴族金屬檢測的特殊需要，提高了貴族金屬檢測的精度。

1 測量方法

X射線熒光光譜儀專利技術的測量原理就是X射線激發貴金屬的表層元素，以X射線為特征的熒光光譜被發送，并且根據X射線進行定性分析。字符埃里克特斯熒光強度與不同元素X射線的含量之間有線性相關。當待測元素的含量從低到高變化的時候，這種線性的關系則由強向弱轉變。其中，采取的計算方法則是由直接法向歸一法、差減法轉變。這樣通過采用標準物質的工作曲線進行比較計算，便能夠進行定量分析[2]。

測試工藝中選擇的測量標準是一系列金首飾的標準材料，所檢查的對象是一個金色期間。

2 不確定度的來源

2.1 A類不確定度

以ua來表示貴金屬含量的重復性與樣品均勻性的不確定度，并按照公式（1）多次儀器測量和樣品不同部位測量值的相對標準差RSD%和測量次數N計算，其計算公式為：

2.2 B類不確定度

用ub來表示標準物質的不確定度，具體見標準物質證書，以uc來表示校正曲線線性，以ud來表示樣品的不一致性。B類不確定度的計算公式為：

在公式（3）的RSD主要代表的是校正曲線殘余標準偏差，所以按照公式（4）進行計算，m 則表示的是校正曲線斜率；N主要表示的是未知樣品測量的次數；n 則表示的是標準物質測量的次數；x0表示的是未知樣品在測量后由校正曲線所得到的（平均）值；則表示的是不同標準物質的標準值的測量平均值；則主要表示的是標準物質的濃度標準值。

在公式（5）中的xj主要表示的是標準物質的測量值；b 則表示的是校正曲線截距；mn則表示的是校正曲線斜率；cj表示的是標準物質的濃度值； 則表示的是標準物質測量的次數。因此，根據上述符號所代表的內容，貴金屬檢測的數學模型為：

3 貴金屬檢測評定

3.1 校正曲線的線性不確定度

通過對貴金屬所含的標準物質進行測量，其所含的標準值和測量值具體見表1，而測量的標準值和測量值主要做校正曲線，具體數值見圖1。

通過將表1中統計的數值直接代入到公式（3）和公式（4）中進行計算，這樣便能夠總結出校正曲線的線性不確定度：

表1 標準物質測量結果%

3.2 測量樣品的不均勻性

通過對貴金屬的重復性和樣品不均勻性引入的不確定度進行測量。

在對貴金屬的樣品進行測量之后，其測量的結果采取校正曲線，其校正后的具體結果見表2：

表2 貴金屬樣品中金含量的測量結果 %

在整個表2中主要涉及到多個儀器測量和貴金屬的不同部位測量，所以則可以將平均值RSD%中所含有的測量重復性和樣品的不均勻性引入到計算公式中，再測量相對的不確定度：

3.3 不確定度的分量匯總

通過根據上述的數據和公式，得出不確定度分量的結果統計：

（3）通過以不確定度uc=0.047%來表示校正曲線的線性[3]。

（4）將貴金屬的檢測結果以0.02%的標準進行估算，從而得出X射線熒光光譜法測量貴金屬的不確定度統計[4]。具體數值見表3。

表3 不確定度的分量匯總表

4 結論

總之，通過使用專利X熒光光譜儀技術檢測貴金屬，可以將測量結果與名義值進行比較，得出關于相符性、不相符性和耐久性的結論。而貴族金屬檢測結果的有效性可以得到公正和客觀的反映。目前還沒有評論，我來添加一個應用所述靶貴金屬的含量不符合標準值的要求，因為使用專利的X射線探測貴金屬，這樣既可判定為不合格。當使用這種檢測方法判定為符合的樣品，在使用其他方法進行檢測的時候也很可能出現不合格的情況。這樣在使用X射線熒光光譜儀專利技術進行貴金屬檢測之后，還需要使用GB 11887—2012中規定的方法進行仲裁，以此保證貴金屬檢測結果的準確性。