EDXRF測定銅鉬含量的濾光片優(yōu)化選擇

蔡順燕，周建斌，庹先國，喻 杰

1.成都理工大學(xué)，四川 成都 610059 2.成都師范學(xué)院，四川 成都 611130

引 言

目前，鉬銅礦中銅和鉬元素的分析測試，根據(jù)含量的高低多采用酸溶或堿溶分解樣品，這種方法工作量大，步驟繁多。分析方法中，重量法或比色法多用在對含鉬量高的測定過程中，低含量鉬測定則采用極譜法[1-2]；對銅的測定多采用容量法或原子吸收光譜法[3]，但其測量范圍較窄[4]。使用能量色散型X射線熒光光譜儀[5-9](XRF)定量分析銅鉬礦中Cu和Mo等金屬元素，具有良好的精密度，而濾光片[10-11]的材質(zhì)和厚度的選擇會(huì)直接影響Cu和Mo元素的檢出限。陳吉文等做了基于EDXRF方法對輕稀土料液的配分含量的在線測定，對濾光片、管流、管壓等條件進(jìn)行優(yōu)化得出采用0.2 mm Al濾光片，1 100 μA光管電流，25 kV光管激發(fā)電壓的測試條件，對同一樣品連續(xù)11次測定的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差小于1%[12]。李秋實(shí)等做了濾光片對透射式微型X光管譜線影響的MC數(shù)值模擬分析，模擬了加不同厚度Al，Cu，Ag和Kapton濾光片前后的原級譜分布，得出原級X射線譜的譜分布與濾光片的材質(zhì)和厚度有關(guān)的結(jié)論[13]。盧艷等仿真了X光管濾光片對原級譜線的影響，得到不同濾光片對X射線譜的衰減規(guī)律[14]。本工作提出使用XRF方法測試鉬銅礦中銅和鉬元素含量時(shí)，選用1 mm Ti濾光片能大大降低銅鉬元素檢出限。

1 X光管原級譜

在使用X射線管激發(fā)樣品時(shí)，構(gòu)成待測元素背景的主要來源是X射線原級譜的散射射線。使用鎢靶作為靶材，它的原級譜見圖1。

圖1 X光管原級譜Fig.1 X-ray tube primary spectrum

鎢的……