中國微束X射線熒光分析技術應用評介
2020-06-12 08:14:40王祎亞王毅民鄧賽文高新華梁國立
光譜學與光譜分析
2020年6期
關鍵詞：分析
王祎亞，王毅民*，鄧賽文，高新華，梁國立，張 中
1.國家地質實驗測試中心，北京 100037 2.鋼鐵研究總院，北京 100081 3.中國建筑材料科學研究總院，北京 100024
引 言
眾所周知，X射線熒光分析(XRF)是當今無機元素分析領域最重要的分析技術之一。就整個分析技術體系而言，它是一種整體分析技術，其分析對象為宏觀試樣，一般在克量級，厘米以上尺度，分析前必須制備成均勻樣品，其分析結果是代表樣品中元素的平均含量。
微束X射線熒光分析(MXRF)中的微-毫區分析(μ/m-XRF)是XRF分析技術發展的一個新領域，屬于整個分析技術體系中的微-毫區原位(微區)分析技術，其分析對象的尺度是0.XX毫米至厘米級的原始樣品或原始樣品中的這一微小區域。該技術成為微小原始樣品或大樣品微小區域中元素含量及其分布研究的一種重要手段。近年來隨著X射線光導管、聚毛細管透鏡技術的發展，微束X射線熒光技術及應用已經成為XRF技術發展的重要方向和新熱點。
早在20世紀50年代末60年代初，就有用于微小區域元素分析的X射線熒光分析儀器設計的報道[1-2]。第35屆(1986)國際X射線光譜分析會議更詳細地報道了此類微束X射線熒光分析技術(MXRF)，并引起國際上的注意[3-4]。近年來，隨著X光導管、聚毛細管透鏡技術的發展和對微小樣品元素含量及區域分布信息需求的增長，MXRF分析技術得到快速發展，其應用也日趨廣泛，成為XRF技術發展與應用的新熱點。
MXRF分析裝置和儀器主要由微束斑X射線源、可移動(旋轉或X-Y移動)樣品臺的樣品室、探測器及具有整機控制和數據處理功能的電腦系統組成。……
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