李 玲, 吳志峰, 王彥飛, 代彩紅
中國計量科學研究院光學與激光計量研究所, 北京 100029
對地觀測技術作為研究空間環境生態系統的重要手段[1],通過測量地球系統的光譜輻射度、反射率等物理量,反演計算地表碳水循環和云層覆蓋率等信息[2-4]。無論星上在軌遙感器還是地面同步觀測設備,全面、高質量的光譜輻射度定標是獲得有效遙感觀測數據的必要前提[5]。陣列式光譜輻射計因機械結構緊湊,以及全波段數據的快速采集,廣泛應用于空間對地觀測和遙感技術等領域[6-7]。然而,陣列式光譜輻射計內部元件在設計加工中,會出現由光柵刻槽精度誤差、光學元件反射等原因造成的雜散輻射,嚴重影響光譜輻射度測量的準確性。
另一方面,外場光譜輻射計的目標光源是地表太陽輻射,其光譜分布與實驗室的定標光源[8](光譜輻射照度標準燈)存在較大差異。實驗室測的紫外雜散輻射比例不能直接應用于外場雜散輻射修正。因此,光譜輻射計的高精度雜散輻射修正,是地基驗證場光譜輻射測量儀器獲得真實可靠遙感數據的重要前提。

圖1 實驗室定標光源與地基驗證場的光譜輻射亮度測量結果
Fig.1Theradiancemeasurementresultsofcalibrationlampinlaboratoryandsolarradianceinground-basedsite
為研究光譜輻射計紫外雜散輻射性能,本文選取多種典型的光譜輻射計進行實驗,包括:AvaSpec-ULS2048(Avantes),Maya2000 Pro(Ocean Optics),HAAS-2000(Everfine Corp.),BLACK-Comet C-50(StellarNet),CR280(Colorimetry Research),PSR+3500(Spectral Evolution),和HR-1024i(SVC)。每臺光譜輻射計定標后測量光譜輻射照度(Ec)或光譜輻射亮度(Lc),再在光路中增加截止濾光片(450 nm前截止),并保持……