夏慧娟 吳衍青 張 磊 孫元鶴 邰仁忠
1(中國科學院上海應用物理研究所 上海 201800)
2(中國科學院上海高等研究院 上海 201210)
3(中國科學院大學 北京 100049)
X射線成像技術在醫療、安檢、工業探傷、無損檢測等領域中具有舉足輕重的地位。由于X射線能量較高,所以實際應用中往往利用X射線的熒光效應將X射線轉化為可見光進行間接成像。尤其對于高能X射線同步輻射光源,間接成像探測器比直接探測壽命長,接收能量范圍高,而且容易實現。但是由于在轉換過程中受到各種因素,尤其是高折射率的影響,X射線間接成像質量有待提高。
在成像技術中,經常通過圖像的反卷積算法來消除成像系統的各種不理想因素,如離焦、運動模糊、光學介質畸變等不利影響。這些反卷積算法在X射線成像技術中也有不少應用。這些算法分為非盲去卷積算法和盲去卷積算法兩大類[1-2]。前者更適合精確恢復圖像。目前常用的非盲去卷積算法有近鄰法、逆濾波法、維納濾波法、線性最小平方法等線性算法[3-4];Jansson-Van Citter法、非線性最小平方法等約束迭代法,最大似然法、最大后驗概率法等統計迭代方法;稀疏自適應網絡、完全卷積學習網絡等新方法[5-7]。這些算法計算量普遍較大,且都需要事先估計成像系統的點擴散函數(Point Spread Function,PSF)才能得到復原圖像;盲去卷積算法一般也需要預估PSF。PSF是衡量光學系統成像性能的數學工具,是恢復圖像過程中消除成像系統各種不利因素影響的關鍵。PSF估計準確與否直接影響了圖像恢復的效果。……