喻明福
摘 要 本文研制了基于能量X射線熒光分析技術的高溫小口徑X射線熒光測井儀,可以在100℃高溫,50Mpa高壓深井環境中,對井下礦物質元素進行實時勘探。通過對前端探管結構的合理研制,解決了高溫高壓環境下電制冷Si-PIN探測器工作問題。在2小時的連續測量中,儀器能夠很好地穩定工作,最大測量誤差小于2%,滿足實際測井儀器要求。
關鍵詞 高溫小口徑;數字化多道脈沖分析器;測量誤差
為獲知礦產資源中礦物質成分,傳統采用的分析方法是“巖芯樣品化學分析法”,該方法需要井下提取巖芯,從巖芯中提取礦物質樣本,碎樣縮分,化學分析等操作,而X射線熒光測井技術同其相比,無須提樣分析,通過激發礦物質元素的特征X射線,由探測單元收集產生核脈沖電信號進行實時處理,可以對井下礦物進行現場分析,探測方便[1-2]。本文通過設計耐高溫型數字化多道脈沖分析器,使用高速ADC電路進行脈沖信號采樣,在FPGA內部進行信號的處理,使用ARM進行通訊,提高整個系統的數字化,準確地提取脈沖幅度。
1 探測器制冷系統
在X射線熒光測井中,隨著鉆孔深度的增加溫度也會越來越高,大致以3℃/100m遞增,千米深度的鉆孔的溫度可達上百攝氏度。而Si-PIN探測器的工作溫度在50℃內,為使探測器在高溫下正常工作,必須為Si-PIN探測器配備制冷系統[3]。本文采用的Si-PIN探測器,需要在恒溫的條件下工作。因此,為使X射線熒光測井探管能原位測量井下礦物質元素,并在一定時間內正常工作,需要設計一種全新的制冷系統。為此,本文為小口徑的熒光探管設計了特殊的制冷設備,整個制冷設備由絕熱材料,多級耐高溫半導體溫差制冷片,導熱材料三部分組成。將制冷裝置放入探頭中,在恒溫水浴加熱鍋中進行溫度實驗。由于水不能被恒溫水浴鍋加熱到100℃以上,實驗室采用導熱油來代替水模擬井液進行實驗。在整個制冷裝置的冷指內和導熱油中分別放入溫度傳感器進行監控,進行2.5小時的溫度實驗,由圖1的實驗結果數據可以看出,當外部油溫在30min左右已超過設定100℃最高溫度,達到107.8℃,冷指內部前30min溫度保持在40℃以下;在外部溫度接近110℃的2h中,溫度一直保持在47℃,小于50℃的最高溫度限值。滿足在100℃的外部高溫下,穩定工作2h的設計要求。
2 核脈沖信號數字化處理
數字化多道能譜測量中,高速ADC將采樣到的數字化核脈沖送入FPGA中需要進一步對信號做處理才可構建能譜。FPGA內部通過構建高通濾波器對脈沖信號進行整形,為了保證在較高計數率情況下,避免由于重疊峰引起峰高的誤判,引入了基線扣除,通過對脈沖幅度值的計算與甄別實現對計數率的校正恢復,使用梯形成形算法準確提取脈沖幅度值,成功構建能譜,最后通過SPI總線與微處理器ARM進行通訊,傳輸譜線數據。
3 系統電源的設計
X射線熒光測井儀工作在礦物勘探井下,在野外工作時只能使用小型發電機為儀器供電,而儀器各個電路單元需要的電壓種類多且各部分電路的功耗、電源噪聲要求也不盡相同,必須設計出適配各個單元電路的電源系統[4]。電源系統采用高轉換效率的DC-DC開關電源與高電源紋波抑制比的低電壓差線性穩壓器LDO相結合的方式,首先使用DC-DC開關電源進行大壓差的轉換,在通過LDO濾除系統噪聲,最終獲得高轉換效率,低噪聲的電源系統。
4 實驗數據及分析
在進行數據測試中采用的是標準樣品,分別選取含量為1%,5%,10%的Fe,Cu,Ni,Ti,Zn的元素進行相應的測定。將儀器接通180V交流電源后,3分鐘后待儀器穩定后,將標準樣品分別放置在測井鈹窗口,在模型井無液的條件下進行測定。測量結果如表1。由最后的測試數據可以看出,對于含量較低為1%的Fe和Cu元素,所測得的數據含量測量誤差在2%之內;而對于其他含量較高的元素,所測得的測量誤差都在1%以內。含量越高,所測得的誤差越小。整體來說X射線熒光測井儀擁有較高的測量準確度,測試數據顯示儀器對標準樣品含量測定的最大誤差小于2%。
5 結束語
本文研制出的高溫小口徑X射線熒光測井儀,可以實時對井下地層進行元素分析。通過設計特殊的制冷設備,解決了100℃的高溫環境下,電制冷Si-PIN半導體探測器工作在50℃以下問題。合理的選擇元器件,優化電路結構和降低電路功耗,設計出可以無故障工作在100℃的數字化脈沖多道分析器,擁有極好的穩定性,最大測量誤差小于2%。
參考文獻
[1] 章曄,謝庭周,曹利國,等.X射線熒光探礦技術[M].北京,地質出版社,1984:301.
[2] 葛良全.放射性同位素X熒光測井技術的研究[J].核技術,1997, 20(1):18-23.
[3] 申風君.X射線熒光測井關鍵技術研究[D].成都:成都理工大學,2011.
[4] 曾國強,葛良全,倪師軍,等.數字化X熒光儀電源的最優化設計[J].核電子學與探測技術,2012,32(6):719-723.