日本發明由碳納米管制成的柔性可穿戴太赫茲成像儀

日本東京工業大學開發出基于碳納米管薄膜的柔性太赫茲成像儀，此成像儀經過微調可以使得太赫茲檢測器的性能變得最優。新型太赫茲成像儀基于的是化學可調整的半導電的碳納米管薄膜。研究人員利用一種被稱為“離子液體門極化”（Liquid ionic gating）的技術（一種調整載流子特性的技術），來對30 μm厚的碳納米管薄膜制成的太赫茲檢測器性能的相關關鍵因素進行高度控制。