宋 江,成鵬飛,武康寧,賈 然
(1.西安工程大學理學院,西安710048;2.西安交通大學電力設備電氣絕緣國家重點實驗室,西安710049)
CaCu3Ti4O12陶瓷淬火態微結構與介電性能研究
宋 江1,成鵬飛1,武康寧2,賈 然2
(1.西安工程大學理學院,西安710048;2.西安交通大學電力設備電氣絕緣國家重點實驗室,西安710049)
采用傳統的電子陶瓷工藝制備了CaCu3Ti4O12(以下簡稱CCTO)陶瓷,主要研究了1 100℃空氣氣氛下淬火對CCTO介電性能的影響。SEM和XRD研究表明,淬火并未改變CCTO陶瓷的晶粒尺寸大小,但會增加陶瓷表面CuO的析出。介電譜測試發現,經過淬火的CCTO陶瓷在低頻下的介電常數和介電損耗均明顯增大,而高頻介電常數和介電損耗幾乎不變。阻抗譜分析進一步表明,淬火后試樣的晶界電阻顯著降低,可能是晶界氧化相對不足,晶界界面態密度下降,導致耗盡層厚度減小,于是低頻介電常數和介電損耗同時增大;由于氧化主要發生在晶界,晶粒點缺陷濃度幾乎不受影響,因此晶粒尺寸和晶粒電阻幾乎不隨淬火而變化。
CCTO;淬火;阻抗譜;點缺陷
CCTO陶瓷具有非常優異的介電性能,室溫下低于1 MHz的頻率范圍內CCTO的介電常數可達到104以上,而且在100 K~600 K的溫度范圍內介電常數幾乎不發生變化,因此最有希望替代鐵電材料的就是CCTO陶瓷。然而當溫度下降至100 K以下時,CCTO的介電常數會突然下降至100左右,并且沒有任何相變發生[1-2]。對于CCTO陶瓷,目前存在的問題是CCTO陶瓷的介電損耗過高而限制了它產業化進程。要實現介電性能的調控,就必須弄清楚CCTO的極化機制。……