關于電容式電壓互感器電容和介損試驗的探析

陳曉梅

摘 要：目前，針對電容式電壓互感器時常會出現故障的問題，經常以相關試驗來排除故障。本文首先從結構上對電容式互感器進行論述，進而基于高壓西林電橋的原理分別對電容式電壓互感器和介損試驗的連接方式以及試驗等進行了淺析，對試驗中應該注意的問題進行了提出和介紹了在試驗中各種樣式進行接線的功效。

關鍵詞：電容式電壓；互感器；電容；介損試驗

DOI：10.16640/j.cnki.37-1222/t.2017.16.249

0 引言

電容式電壓互感器相比其它的互感器，有著自己獨特的優勢。因為電容式互感器輕巧，體積較小，價格便宜等優勢而得到了廣泛的應用[1]。但電容式互感器在運行中也同樣存在安全隱患，這些隱患嚴重的會導致電壓互感器爆炸，面對這些高風險的隱患需要做好預防工作。預防性試驗對電容式互感器檢測出存在的風險是非常重要的，進行預防性的試驗需要注意諸多問題，一旦出錯會造成電容式互感器的損壞。掌握準確的試驗方法和流程對試驗的成功起到至關重要的作用，因此本論文將對此進行簡要的探析。

1 電容式互感器的結構特點

電容式互感器主要是由兩部分組成，分別是電容分壓器和電磁單元。分壓器部分是由3臺某型號的耦合電容器，和1臺某型號的分壓電容器疊裝串聯組成。在每臺電容器的內部，芯子是由多個電容元件組成的。電容式互感器的底座是由油箱組成的，這種油箱底座和分壓電容器重疊在一起。如圖1所示，某電容互感器的電氣原理圖：

由圖N點是電容分壓器的低端，X點是補償器電抗器低壓端。電容器分壓器的低端和補償器電抗器的低壓端被引出來連接到油箱前方的出現的盒子內，這個中間連接著載波裝置。整個組成還和S（電壓的保護球隙）相互并聯。在電容式互感器相互運行時，電容器互感器的低端可以與大地相連接。當載波裝置在運行時退出，電容分壓器應該與補償電抗器低壓端之間可以進行短接而且還可以進行接地。

2 電容式互感器的試驗分析

在進行試驗之前要準確了解相關的規范，其中在《試驗規程》中對電容式互感器有著明確的規定，要求對每一節的電容器的電容量及電磁單元進行測量。但是兩者之間在測量上因為沒有連接，并且沒有端子，因此在一定程度上存在著很大的困難，接下來我們對電容式互感器試驗進行探析。

3 電容器的試驗探究

3.1 不同連接，不同介質下的介損和電容量

介損和電容器的兩個介質層進行并聯時，電容量和介質對整體影響的程度不同，其中電容量相對較小的那一層對整體的影響較小。

介損和電容器的兩個介質層進行串聯時，電容量和介質對整體的影響效果也不同，其中電容量相對較大的那一層對整體的影響較大。

3.2 分壓電容器的試驗

在分壓電容器的實驗中有一種測量方法叫做自激法測量。這種測量方法是在一定的情況下才會采取，當電壓無法被直接的加到每個電容上的時候，這種自激測量的方法被采用。[2]這種自激測量的原理是在中間變壓器的中的低壓燒組的位置上進行加壓，之后在北側電容上通過中間變壓器裝置進行升壓產生高電壓。在對分壓電容器測量不同部分的電容的連接裝置是不同的。在測量分壓電容器電容時，不能將實驗電壓跳的過大。除此之外在進行實驗測試的時候，低壓電路的電流一般情況下都不應該超過低壓燒組額定電流的三倍。

3.3 中間變壓器的試驗

中間變壓器測量實驗中也有自己的連接方式，其連接方式如圖2所示：

在進行中間變壓器試驗的時候要注意一些操作上的細節。在試驗的時候要將補償器電壓器的低端和大地之間連接點斷開，將保護載波裝置過電壓的保護球隙的電壓調到合理的位置，大多數調到3-4KV，但在進行試驗的時候最合理的電壓維持在2.5KV除了上述所要求的以外還要將電路中所有的低壓繞組頭部和尾部進行短接接地。在進行測試的時候同樣小心諧振現象的發生[3]。在試驗的時候由于中間變壓器之間是死連接，因此在測量的時候也會存在較大的誤差。

3.4 對重疊組裝部分的整體試驗

在電壓式互感器電容和介損的實驗中，常常會發生諧振事故，為了降低諧振現象的發生，要對分壓電容器和電磁元的電容和介損進行相應的測試。在進行這項測試的時候，由于在分壓器無法引出端子，所以在某些電容器中，從中壓引出端子。除此之外還有一些電容器是在中壓端子和大地之間設置了一個接地刀閘。這樣做就不會有諧振現象的產生。

4 結束語

我們對測量各個部分電容器電容和介損的試驗進行了分析。在試驗中常會有一些故障的發生。測量各個部分的電容和介損是檢測絕緣狀況的最好方法。在每個部分測量時都有各自的誤差和事故，但是在每個電容器不同部分測試中也有自己獨特的解決方案。本論文對電容器互感器電容和介損的試驗進行了淺談，希望對以后的試驗起到一定的作用。

參考文獻：

[1]中華人民共和國電力工業部.電力設備預防性試驗規程[S].北京：中國電力出版社，1997.

[2]國家機械工業局.耦合電容器及電容分壓器[M].北京：機械科學研究院出版社，2001.

[3]倪學鋒，林浩.試驗引起CVT損壞的原因及預防措施[J].高電壓技術.endprint