耐電暈試驗(yàn)用高速脈沖電源的分析與設(shè)計(jì)

李真　賀慧勇　黃昱　周鵬毅

摘要：漆包線耐電暈試驗(yàn)用脈沖電源對(duì)電壓變化率要求高，現(xiàn)有普通電源難以滿(mǎn)足要求。提出一種漆包線耐電暈試驗(yàn)用高速脈沖電源設(shè)計(jì)。建模分析各元件參數(shù)和電路主要參數(shù)；選用耐高壓的絕緣柵雙極型晶體管（inslllated gate bipolar transistor，IGBT）以提高H橋輸出電壓；利用柵極電阻的阻值調(diào)節(jié)脈沖的上升/下降時(shí)間。仿真和實(shí)驗(yàn)表明，所設(shè)計(jì)的高速脈沖電源的電壓變化率（dn/dt）為30 kV/us，即輸出電壓峰峰值3 kv的情況下，電壓上升時(shí)間和下降時(shí)間為100 ns。

關(guān)鍵詞：耐電暈；高速脈沖；30 kV/us；IGBT