X射線熒光光譜分析中譜線重疊校正系數(shù)的測量

葛穎新, 張環(huán)月, 唐 俠

(1. 沈陽產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗院, 沈陽 110022; 2. 大連理工大學 材料科學與工程學院, 大連 116023; 3. 沈陽黎明發(fā)動機公司技術(shù)中心, 沈陽 110043)

X射線熒光光譜分析中譜線重疊校正系數(shù)的測量

葛穎新1, 張環(huán)月2, 唐 俠3

(1. 沈陽產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗院, 沈陽 110022; 2. 大連理工大學 材料科學與工程學院, 大連 116023; 3. 沈陽黎明發(fā)動機公司技術(shù)中心, 沈陽 110043)

應用整套標準樣品法和基本參數(shù)(FP)法計算譜線重疊校正系數(shù)(K)效果較好。應用整套標準樣品法需選用與被測樣品具有相同基體和近似組成的標準樣品;由于共存組分的譜線重疊的干擾常導致校正曲線產(chǎn)生較大的負截距,需通過多次迭代計算消除截距而使曲線通過原點,因為只有這樣得到的K和M才是真值。實踐中常有一些例子不能用整套標準樣品法計算K值,例如鋼中測定低含量鉻時受到釩的重疊干擾問題。在此實例中除了釩對鉻的譜線重疊干擾之外,還有儀器通道材料的干擾,此時,必須先用瑞利散射校正法消除此干擾后,選用鐵基的標準樣品,用FP法計算K值,可消除釩對鉻的譜線重疊干擾。

X射線熒光光譜法; 譜線重疊校正系數(shù); 基本參數(shù)法

X射線熒光光譜分析中譜線重疊現(xiàn)象普遍存在,文獻[1-3]中給出了一些元素間存在的譜線重疊干擾。由于重疊校正系數(shù)與所用設備的幾何條件,準直器、晶體、脈沖高度分析器,探測器能量分辨率有關,所以重疊校正系數(shù)只能在所用儀器上由試驗算得,不能直接引用文獻數(shù)值[1],因此準確測得重疊校正系數(shù)是每一位X射線熒光光譜分析者首要解決的問題?！?br>