基于ARM技術的高分辨率顯示屏光電自動測試平臺設計

廈門南洋職業學院　聶素麗

基于ARM技術的高分辨率顯示屏光電自動測試平臺設計

廈門南洋職業學院聶素麗

本文介紹基于ARM技術實現高分辨率顯示屏的光電自動測試，闡述了該系統的總體設計方案及實現流程。

MIPI；液晶顯示；高分辨率

高分辨率顯示光學自動測量平臺從技術的發展看，系統測量平臺及高分辨率顯示技術是關鍵技術。光電測量平臺已經在各個顯示企業中引入；在光電顯示行業方面，高分辨率是一個市場的趨勢，因此如何正確自動的測量高分辨顯示就成為了眾多光電廠商積極競爭的領域。

1　系統整體方案設計

本設計以32位ARM處理器為核心，FPGA為顯示驅動核心，FPGA的顯示驅動畫面要通過24BIT RGB轉換為MIPI協議來驅動高分辨率顯示屏。ARM產生控制信號，控制FPGA進行不同的畫面切換，同時ARM可以通過光學測量設備采集到相關的光學數據。ARM通知FPGA切換到要測量的畫面，而后通知光學設備進行光學采集；采集后的數據進行運算換成的dB值后與理論數據進行比較，超過一定的誤差范圍后進行報警顯示。整體架構如圖1所示：

圖1　整體架構

2　實施方案

2.1ARM接口電路

采用STM32F207ZGT6為核心處理器，該處理器為ARM Cortex?-M4是32位MCU，帶有FPU單元，有210 DMIPS，多達1MB FLASH/192+4KB RAM，USB OTG HS/FS，Ethernet，17個定時器，3個ADC，15個通訊接口，主頻高達168MHz，用以滿足需要有效且易于使用的控制和信號處理功能混合的數字信號控制市場。

2.2SDRAM接口電路設計

圖2　SDRAM電路設計

采用3塊SDRAM用于存放RGB格式圖片，ARM與SDRAM互相交換信息實現圖片的存儲，電路設計如圖2所示。

2.3RGB信號轉換高分辨率MIPI信號電路設計

采用SSD2828設計，經SDRAM輸出的2KX1K分辨率的RGB信號在FPGA的控制下，輸入兩片SSD2828轉換成8KX4K高分辨率的MIPI信號，SSD外圍電路如圖3所示。

2.4自動測量設計

采用光電傳感器實時監控液晶顯示屏的顯示情況，在ARM信號的控制下實現與ARM處理器的信息交換，實時跟蹤液晶顯示屏的自動測量，顯示異常將會報警顯示。

圖3　SSD2828電路設計

3　結束語

本文完成了對高分辨率顯示屏進行亮度、暗度、GAMMA、Flicker、白點、RGB畫面等進行自動測量；測量后將得到的數據與理論數據進行對比判別，而后報警顯示，實現了高分辨率顯示驅動平臺簡易化開發及完全高分辨率顯示光學自動測量。

［1］賀鵬等.液晶顯示原理［M］.北京：清華大學出版社，2014.

［2］李文峰.光電顯示技術［M］.北京：清華大學出版社，2010.

［3］毛文煒.光學工程基礎［M］.北京：清華大學出版社，2015.

［4］李偉剛.光學原理［J］.北京：清華大學出版社，2012.

福建省教育廳2015年中青年教師教育科研項目《高分辨率顯示屏光電自動測試平臺研究》（項目編號：JA15893）。

聶素麗，碩士研究生，廈門南洋職業學院講師。