利用巖礦鑒定法分析礦石特征

■　郭嘉

（山東省第一地質礦產勘查院山東濟南250031）

利用巖礦鑒定法分析礦石特征

■郭嘉

（山東省第一地質礦產勘查院山東濟南250031）

利用巖礦鑒定法分析山東省沂源縣韓旺礦區鐵礦的礦石特性，將礦區代表性巖石制成薄片，利用偏光顯微鏡鑒定礦石特性并進行分析和總結。

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1　前言

巖石是構成地球表層的主要物質成分，是在特定地質條件下，由各種地質作用所形成的具有穩定外形的固體礦物集合體。礦物是地殼中的化學元素經由各種地質作用形成并富存于地殼中的自然物質，大多數是由兩種或多種元素構成的化合物[1]。

韓旺礦區位于山東省沂源縣，是萊鋼集團下屬重要礦山采礦基地。利用巖礦鑒定法分析韓旺礦區礦石特性，分析影響偏光顯微鏡鑒定因素，確定礦石特性。

2　實驗部分

2.1儀器、試劑

儀器：Scope.A1偏光顯微鏡、CB型輕便巖石切割機、TM-1型立式磨片機

試劑：冷杉膠，中性樹膠

2.2實驗方法

（1）巖石薄片制樣：把巖石按方位用切片機切成厚3mm、24× 24mm的正方形。將其中一面用細粒金剛砂磨至表面光滑，此面用冷杉膠粘貼在載玻片上。最后將另一面繼續研磨至0.03mm厚并烘干，用中性樹膠蓋上蓋玻片[2]。

（2）偏光顯微鏡下鑒定：將磨好的薄片置于偏光顯微鏡下觀察礦物晶形，判斷礦物組成成分、含量、粒度，鑒定巖石顯微結構、構造等。

3　鑒定結果、討論

3.1巖礦薄片鑒定結果

選取6件具代表性的巖石制成薄片，從中選取最具代表性的兩件薄片（B1、B5）進行分析。見表1巖礦鑒定結果。

3.2巖礦薄片對鑒定結果的影響因素

（1）巖石薄片是否合格關鍵是薄片厚度達到0.03mm。若太厚，鏡下觀察礦物的干涉色會改變而造成鑒定錯誤。

（2）薄片薄厚均勻。觀察者可清晰分辨礦物的種類、含量、粒度等，不會因厚度不勻均干擾鑒定。

3.3偏光顯微鏡的工作條件對鑒定結果的影響因素

3.3.1校正中心

在偏光顯微鏡光學系統中，載物臺的旋轉軸、物鏡中軸及目鏡中軸應當嚴格在一條直線上。若不在一條直線上，當轉動載物臺時，視域內物象可能轉出視域外，妨礙觀察，而且影響某些光學數據的測定精度。

3.3.2上下偏光振動方向正交

偏光顯微鏡需使上下偏光正交。正交的情況下，均質體礦物視場始終為黑暗，而非均質體會出現干涉現象。如果上下偏光振動方向未正交，那么均質體礦物將會出現干涉現象，而非均質體礦物的干涉色會發生變化，造成判斷錯誤。

表1　巖礦鑒定結果

［1］唐洪明.礦物巖石學[M].北京：石油工業出版社，2007.1-3.

［2］李德惠.晶體光學[M].北京：地質出版社，1997.28-29.

P2[文獻碼]B

1000-405X（2016）-3-197-2