EDA技術(shù)在數(shù)字電子技術(shù)試驗(yàn)中的應(yīng)用

于衛(wèi)衛(wèi)　王國(guó)永　王劍

摘要：伴隨著科學(xué)技術(shù)和社會(huì)經(jīng)濟(jì)的迅速發(fā)展，傳統(tǒng)數(shù)字電子技術(shù)已經(jīng)逐漸不能滿足社會(huì)實(shí)際需求，需要進(jìn)一步研究電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化技術(shù)，這種技術(shù)是在計(jì)算機(jī)信息技術(shù)前提下構(gòu)建的。由于科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，EDA技術(shù)的不斷完善，在眾多領(lǐng)域中也得到廣泛應(yīng)用。EDA技術(shù)已經(jīng)成為教育教學(xué)中的重要部分，基于此本文主要分析了EDA技術(shù)在數(shù)字電子技術(shù)試驗(yàn)的應(yīng)用，全面促進(jìn)改革和創(chuàng)新數(shù)字電子技術(shù)試驗(yàn)的水平和質(zhì)量。

關(guān)鍵詞：EDA技術(shù) 數(shù)字電子技術(shù) 試驗(yàn)

中圖分類號(hào)：TN914.42 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼：A 文章編號(hào)：1007-9416（2016）08-0125-01

現(xiàn)階段電子技術(shù)是應(yīng)用十分廣泛的一種技術(shù)，已經(jīng)得到大量的應(yīng)用。隨著科學(xué)技術(shù)和信息技術(shù)的不斷發(fā)展，電子技術(shù)開(kāi)始逐漸劃分，主要包括數(shù)字電子技術(shù)和模擬電子技術(shù)，并且這兩種技術(shù)具備一定聯(lián)系，但是實(shí)際應(yīng)用過(guò)程中也存在不足，從未來(lái)發(fā)展趨勢(shì)來(lái)說(shuō)，會(huì)更廣泛的應(yīng)用數(shù)字電子技術(shù)。數(shù)字電子技術(shù)試驗(yàn)中結(jié)合EDA技術(shù)進(jìn)行應(yīng)用，以便于更加廣泛的應(yīng)用數(shù)字電子技術(shù)，促進(jìn)不同領(lǐng)域中應(yīng)用的力度和水平得到全面發(fā)展。

1 EDA技術(shù)基本概述

EDA技術(shù)實(shí)際上就是電子自動(dòng)化技術(shù)，近年來(lái)由于科學(xué)技術(shù)的迅速發(fā)展，形成了EDA新型技術(shù)，具備十分廣泛的應(yīng)用范圍，雖然相關(guān)專家和學(xué)者集中研究EDA技術(shù)的定義，但是目前還沒(méi)有獲得明確的界定。在CAD技術(shù)前提下發(fā)展EDA技術(shù)，是創(chuàng)新計(jì)算機(jī)軟件系統(tǒng)的一種，EDA技術(shù)綜合信息技術(shù)、CAM、CAT等的特征，計(jì)算機(jī)為該技術(shù)應(yīng)用的主要操作平臺(tái)，影響描述語(yǔ)言是EDA設(shè)計(jì)語(yǔ)言的關(guān)鍵，開(kāi)發(fā)EAD技術(shù)的時(shí)候合理應(yīng)用EDA軟件，SOC、ASIC芯片是目標(biāo)器，可編程控制器FPGA/CPLD是試驗(yàn)主要載體。應(yīng)用EDA技術(shù)的時(shí)候主要就是進(jìn)行系統(tǒng)仿真，綜合應(yīng)用各種技術(shù)，合理使用高級(jí)描述語(yǔ)言。EDA技術(shù)從本質(zhì)上來(lái)說(shuō)就是電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)技術(shù)，現(xiàn)階段國(guó)內(nèi)主要包括Matlab、EWB等應(yīng)用軟件[1]。

2 在數(shù)字電子技術(shù)試驗(yàn)中EDA技術(shù)的應(yīng)用

2.1 綜合、輸入

數(shù)字電子技術(shù)試驗(yàn)過(guò)程中，傳統(tǒng)技術(shù)導(dǎo)致出現(xiàn)比較復(fù)雜的工作環(huán)境，如硬件、搭試、調(diào)試、焊接等虛擬環(huán)境，從而嚴(yán)重影響試驗(yàn)的整體質(zhì)量，所以基于此為了構(gòu)建良好的試驗(yàn)環(huán)境，需要在實(shí)際操作過(guò)程中注重EDA技術(shù)的應(yīng)用和平臺(tái)建設(shè)，并且依據(jù)原理圖文本、VHDL文本方式在虛擬平臺(tái)環(huán)境中輸入實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目源文件，以便于能夠依據(jù)EDA技術(shù)來(lái)合理處理VHDL文本，并且轉(zhuǎn)換邏輯級(jí)線路，合理變?yōu)殚T級(jí)電路，最后能夠展現(xiàn)出時(shí)序分析文件以及網(wǎng)表文件，基于此實(shí)際試驗(yàn)操作的時(shí)候需要系統(tǒng)化分析試驗(yàn)數(shù)據(jù)信息，并且有效提高試驗(yàn)的整體效率和成功率。從上述分析過(guò)程中可以發(fā)現(xiàn)轉(zhuǎn)換項(xiàng)目文件的時(shí)候可以應(yīng)用EDA技術(shù)，因此，數(shù)字電子技術(shù)試驗(yàn)的時(shí)候應(yīng)該提高和落實(shí)EDA技術(shù)[2]。

2.2 布線布局

布線布局過(guò)程中應(yīng)用EDA技術(shù)，也就是利用FPGA/CPLD適配器來(lái)處理綜合圖表數(shù)據(jù)，并且依據(jù)邏輯映射的方式來(lái)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行呈現(xiàn)，基于此在仔細(xì)觀察數(shù)字電子技術(shù)試驗(yàn)以后，及時(shí)發(fā)現(xiàn)操作過(guò)程中的問(wèn)題和不足，并且利用合理方式對(duì)其進(jìn)行處理。在EDA技術(shù)模式下來(lái)進(jìn)行數(shù)字電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)的時(shí)候，一般需要涉及底層器件配置、邏輯分割等過(guò)程，所以，數(shù)字電子技術(shù)試驗(yàn)的過(guò)程中需要高度重視上述問(wèn)題，保障能夠構(gòu)建良好的試驗(yàn)環(huán)境。此外，在布線布局的前提下進(jìn)行時(shí)序仿真的時(shí)候需要注重文件的格式，如JEDEC、JAM，以便于保障能夠統(tǒng)一器件結(jié)構(gòu)和適配對(duì)象，從而切實(shí)滿足實(shí)際需求。

2.3 仿真

數(shù)字電子技術(shù)試驗(yàn)的時(shí)候應(yīng)用EDA技術(shù)，需要在下載試驗(yàn)編程的時(shí)候注重系統(tǒng)仿真功能，也就說(shuō)測(cè)試綜合、輸入過(guò)程的數(shù)據(jù)信息，并且實(shí)際操作的時(shí)候應(yīng)該評(píng)估以及管理操作控制試驗(yàn)平臺(tái)的項(xiàng)目信息，以便于能夠順利獲得技術(shù)知識(shí)。數(shù)字電子技術(shù)試驗(yàn)的時(shí)候應(yīng)用EDA技術(shù)，需要合理利用仿真平臺(tái)來(lái)設(shè)計(jì)和交互數(shù)字信息，以便于自動(dòng)進(jìn)行系統(tǒng)化分析試驗(yàn)數(shù)據(jù)，從而整體提高學(xué)習(xí)試驗(yàn)效率。此外，建立仿真試驗(yàn)平臺(tái)的時(shí)候需要具備故障處理、項(xiàng)目發(fā)布、注冊(cè)系統(tǒng)的功能，以至于能夠確保學(xué)習(xí)質(zhì)量和提高教學(xué)質(zhì)量。

2.4 編程下載

仿真環(huán)節(jié)完成以后需要利用Byteblaster來(lái)下載適配器文件，此外也需要利用JTAG來(lái)進(jìn)行下載操作，最終在FPGA中保存文件內(nèi)容。

3 數(shù)字電子技術(shù)試驗(yàn)中EDA技術(shù)的應(yīng)用效果

現(xiàn)階段，數(shù)字電子技術(shù)中應(yīng)用EDA技術(shù)的時(shí)候可以從以下幾方面進(jìn)行分析，一是，提高試驗(yàn)準(zhǔn)確性，也就是在傳統(tǒng)設(shè)計(jì)技術(shù)不能滿足實(shí)際需要的時(shí)候，為了能夠充分展現(xiàn)系統(tǒng)誤差應(yīng)用EDA技術(shù)，以此來(lái)充分體現(xiàn)試驗(yàn)過(guò)程和內(nèi)容等，以便于能夠隨時(shí)了解和掌握電子技術(shù)試驗(yàn)的情況，及時(shí)控制試驗(yàn)設(shè)備，提高整體試驗(yàn)的效果。二是，隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展，目前越來(lái)越嚴(yán)格要求實(shí)踐能力。EDA技術(shù)應(yīng)用在數(shù)字電子技術(shù)中能夠?yàn)殡娐氛{(diào)試、電路更改等過(guò)程進(jìn)行轉(zhuǎn)化，以此構(gòu)建仿真試驗(yàn)，也就是為試驗(yàn)過(guò)程中構(gòu)建合理的操作環(huán)境，從而提高自身實(shí)踐能力和專業(yè)能力。三是，數(shù)字電子技術(shù)試驗(yàn)中應(yīng)用EDA技術(shù)以后，能夠改變傳統(tǒng)教學(xué)試驗(yàn)方式，改變?cè)囼?yàn)空間受到限制的現(xiàn)象，也就是利用EDA系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)等技術(shù)來(lái)完成電子試驗(yàn)操作，全面提高整體效果，基于此可以發(fā)現(xiàn)，數(shù)字電子試驗(yàn)中應(yīng)用EDA技術(shù)能夠在一定程度上提高自主設(shè)計(jì)的效率和質(zhì)量，保障提高試驗(yàn)的效果。

4 結(jié)語(yǔ)

綜上，未來(lái)發(fā)展過(guò)程中數(shù)字電子技術(shù)是關(guān)鍵和主要趨勢(shì)，也就是在計(jì)算機(jī)平臺(tái)基礎(chǔ)上建立的EDA技術(shù)，深入發(fā)展EDA技術(shù)，有機(jī)結(jié)合計(jì)算機(jī)技術(shù)、綜合性技術(shù)、平臺(tái)技術(shù)，全面發(fā)展數(shù)字電子技術(shù)試驗(yàn)操作，以便于能夠穩(wěn)定發(fā)展數(shù)字電子技術(shù)，未來(lái)發(fā)展過(guò)程中數(shù)字電子技術(shù)具備更加廣泛的應(yīng)用前景，并且逐漸朝著智能化、高效化方向發(fā)展。

參考文獻(xiàn)

[1]辛修芳，李媛.EDA技術(shù)與數(shù)字電子技術(shù)教學(xué)的整合[J].重慶電子工程職業(yè)學(xué)院學(xué)報(bào)，2010，19（2）：155-157.

[2]王彩鳳，胡波，李衛(wèi)兵等.EDA技術(shù)在數(shù)字電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)中的應(yīng)用[J].實(shí)驗(yàn)科學(xué)與技術(shù)，2011，09（1）：4-6，110.