王征宇,趙 樺
(中國電子科技集團公司第58研究所,江蘇無錫214035)
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NOR型FLASH存儲器測試技術
王征宇,趙樺
(中國電子科技集團公司第58研究所,江蘇無錫214035)
摘要:NOR型FLASH存儲器因其能夠長久地保持數據的非易失性(Non-Volatile)特點,被廣泛用作各類便攜型數字設備的存儲介質,但由于此類器件的編程及擦寫均需寫入特定指令,以啟動內置編程/擦除算法,從而使得采用自動測試系統對其進行測試也具有較高難度。因此,研究NOR型FLASH存儲器的測試技術,并開發此類器件的測試平臺具有十分重要的意義。首先以AMD公司的AM29LV160DT為例,介紹了NOR型FLASH存儲器的基本工作原理,接著詳細闡述了一種采用J750EX系統的DSIO模塊動態生成測試矢量的方法,從而能夠更為簡便、高效地對NOR型FLASH存儲器的功能進行評價。
關鍵詞:NOR型FLASH;DSIO
FLASH閃存(Flash Memory)是一種非易失性(Non-Volatile)閃存,與各類DDR、SDRAM或者RDRAM等存儲器不同,它在沒有電流供應的條件下也能夠長久地保持數據,因此被廣泛用作各類便攜型數字設備的存儲介質,特別是移動存儲、MP3播放器、數碼相機、掌上電腦等新興數字設備。目前市場上有兩種主要的非易失性閃存:NOR型和NAND型。根據其自身的技術特點,均在市場中占有舉足輕重的地位。其中,NOR型為芯片內執行(XIP, eXecute In Place),即應用程序可直接在閃存內運行,不必再把代碼讀到系統RAM中,因此傳輸效率較高,但同時也使其無法像SRAM、SDRAM等存儲器那樣可以直接對地址單元進行讀寫操作,隨寫隨讀。這使得對于此類器件的測試具有一定難度。本文以AMD公司的AM29LV160DT為例,介紹了一種基于Teradyne公司J750EX測試系統的DSIO模塊,來實現對此類FLASH存儲器功能進行評價的測試方案。……