NOR型FLASH存儲器測試技術

王征宇，趙　樺

（中國電子科技集團公司第58研究所，江蘇無錫214035）

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NOR型FLASH存儲器測試技術

王征宇，趙樺

（中國電子科技集團公司第58研究所，江蘇無錫214035）

摘要：NOR型FLASH存儲器因其能夠長久地保持數據的非易失性（Non-Volatile）特點，被廣泛用作各類便攜型數字設備的存儲介質，但由于此類器件的編程及擦寫均需寫入特定指令，以啟動內置編程/擦除算法，從而使得采用自動測試系統對其進行測試也具有較高難度。因此，研究NOR型FLASH存儲器的測試技術，并開發此類器件的測試平臺具有十分重要的意義。首先以AMD公司的AM29LV160DT為例，介紹了NOR型FLASH存儲器的基本工作原理，接著詳細闡述了一種采用J750EX系統的DSIO模塊動態生成測試矢量的方法，從而能夠更為簡便、高效地對NOR型FLASH存儲器的功能進行評價。

關鍵詞：NOR型FLASH；DSIO

1　概述

FLASH閃存（Flash Memory）是一種非易失性（Non-Volatile）閃存，與各類DDR、SDRAM或者RDRAM等存儲器不同，它在沒有電流供應的條件下也能夠長久地保持數據，因此被廣泛用作各類便攜型數字設備的存儲介質，特別是移動存儲、MP3播放器、數碼相機、掌上電腦等新興數字設備。目前市場上有兩種主要的非易失性閃存：NOR型和NAND型。根據其自身的技術特點，均在市場中占有舉足輕重的地位。其中，NOR型為芯片內執行（XIP, eXecute In Place），即應用程序可直接在閃存內運行，不必再把代碼讀到系統RAM中，因此傳輸效率較高，但同時也使其無法像SRAM、SDRAM等存儲器那樣可以直接對地址單元進行讀寫操作，隨寫隨讀。這使得對于此類器件的測試具有一定難度。本文以AMD公司的AM29LV160DT為例，介紹了一種基于Teradyne公司J750EX測試系統的DSIO模塊，來實現對此類FLASH存儲器功能進行評價的測試方案。……