X熒光微區分析在巖礦鑒定工作中的應用

＊曹 峰

（黑龍江省地質礦產測試應用研究所 黑龍江 150036）

X熒光微區分析在巖礦鑒定工作中的應用

＊曹 峰

（黑龍江省地質礦產測試應用研究所 黑龍江 150036）

本文利用日本理學公司推出的帶微區分析功能的ZSX PrimusⅡ型X射線熒光光譜儀對事先選定的幾個礦石樣品進行微區分析，通過事先建立的定性分析方法，得到了礦石測量點的化學成分含量，為巖礦鑒定工作提供一種快速、便捷的分析方法和輔助手段。

微區分析；巖礦鑒定

所謂微區分析是指在固體樣品的某一微小區域直接進行成分分析或利用各種微束或探針技術來直接（原位）分析在光學顯微鏡下所選的微區物質進行化學成分分析的一種分析技術。目前已經廣泛應用的微區分析儀器有電子探針、離子探針、激光探針、掃描電子顯微鏡、俄歇電子譜儀等，這些分析技術在礦石鑒定方面發揮著重要作用。盡管探針等技術可定量或半定量測定元素含量，但是其測定的樣品需要制備成探針片，絕大部分地質樣品不導電，因此需要在真空下進行預處理（噴碳），而且礦石結晶水含量對測定結果影響大，特別是在測定普通光片時，抽真空時間非常長，使其在巖礦鑒定的應用上受到了一定的限制。而X射線熒光光譜儀微區分析具有譜線簡單、干擾少、穩定性好、制樣簡單、方法簡便、分析范圍寬、適應性廣、無損分析、測定結果準確可靠等優點，測量面積還可以根據需要鑒定的礦物的大小進行調整，實現原位測定。

X熒光光譜儀的分析范圍很廣，從F～U均能夠做出定性或半定量的分析，在微區分析中，凡是含量大于十萬分之一（0．001×10-2）均可以給出半定量的結果。并且微區分布分析有三種測量模式：點分析、線分析和面分析。在點分析中點測量直徑為30μm。可以對指定位置進行定點分析。在線分析和面分析中，通過測量指定位置，可以得到元素分布數據。為巖礦鑒定提供有利的數據支持。

1.實驗部分

(1)儀器

日本理學ZSX Primus Ⅱ型波長色散X射線熒光光譜儀，儀器各項參數見表1。

表1 儀器參數

(2)分析元素的測量條件

分析元素的測量條件見表2。

表2 分析元素的測量條件

參數名稱 參數值X射線管 端窗型Rh靶材4kV工作電壓20kV～60kV工作電流2mA～160mA鈹窗厚度30μm視野光欄 0.5mm～30mm

注：PHA為脈沖高度分析器，元素均選用Kа譜線，濾光片為無，衰減器為1/1。

(3)樣品的選擇

本文選擇有代表性的礦石樣品作為代表，磁鐵礦。

Application of X-fluorescence Micro Zone Analysis in Rock-mineral Determination Work

Cao Feng
（Heilongjiang Test and Application Research Institute of Geology and Mineral Resources, Heilongjiang, 150036）

In this paper, it makes use of the ZSX Primus type of X-ray fluorescence spectrometer with micro zone analysis function launched by Japan Rigaka to take micro zone analysis of the several selected ore samples, besides, through the pre-established qualitative analysis methods, we got the chemical composition content of ore measurement point, which provides a rapid and convenient analysis method and auxiliary means for rock-mineral determination work.

micro zone analysis；rock-mineral determination

2.結果和討論

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