愛德萬測試:創新是企業的生命力

本刊記者 蘆瀟靜

愛德萬測試:創新是企業的生命力

本刊記者 蘆瀟靜

中國政府強有力的扶持政策成為我國半導體產業快速發展的強大驅動力。雖然不少中國設計公司已然躋身于全球第一梯隊，但垂直整合的半導體企業大多還在摸索之中，這也意味著中國市場具有很大的發展空間。對于21年前就在上海成立中國公司的愛德萬測試而言，這是絕佳的機遇。一向注重創新的愛德萬測試，通過不斷研發新品、拓展新業務來迎接這一市場機遇。在近日舉辦的記者發布會上，愛德萬測試全球市場副總裁Judy Davies，以及愛德萬測試中國的市場銷售總經理陸樂和負責業務戰略發展的夏克金博士，共同分享了公司的最新發展狀況。

Wave Scale測試板卡提供更加經濟高效的測試方案

愛德萬測試基于經典的V93000平臺推出了Wave Scale系列測試板卡，對于無線通信而言，可以前所未有地提高射頻及混合信號集成電路測試時的并行性及產能。新款V93000 Wave Scale RF及V93000 Wave Scale MX測試板卡，瞄準射頻及無線通信市場，可實現高并行、多芯片同測及芯片內并行測試，從根本上降低測試成本，縮短產品上市時間，同時為未來5G芯片的測試開辟出一條新的路徑。

Wave Scale RF板卡在每塊板上擁有4個獨立的射頻子系統，并帶有獨立的信號激勵及測量能力，能夠在同一時間對LTE、GPS、藍牙、WLAN器件進行測試。每個子系統帶有8個單獨的端口，能夠同時將射頻信號扇出到最多4個獨立的測量儀器。這能使每個射頻子系統能夠支持多達8個芯片運行RX（接收器）和TX（發射器）的測試，每塊板卡支持多達32個芯片同時測試。Wave Scale RF板卡的32個射頻端口都能支持最高至6 GHz的頻率。憑借200 MHz帶寬，以及包括提供內部回路、嵌入式校準等在內的其他各種特性，Wave Scale RF板卡能很好地支持包括未來5G半導體器件在內的廣泛的應用。

Wave Scale MX高速混合信號測試板卡為模擬IQ基帶應用及高速DAC和ADC測試進行了優化，每塊板卡上擁有32個完全獨立的測試儀器，并且每個通道上帶有一個額外的參數測量單元（PMU）以實現高精度的DC測量。憑借300 MHz的帶寬，這塊板卡能夠支持最新的調制標準，包括對基帶復合信號進行帶外測量。

T5830存儲器測試系統滿足Flash器件測試成本效益需求

根據市場分析機構VLSI Research的調研，隨著便攜式電子應用的蓬勃發展，預計到2018年，Flash存儲器測試系統的全球市場將達到1億4800萬美元。經濟高效地測試非易失性存儲器件，需要一個多功能的、靈活的測試平臺來確保用戶的投資回報率，并降低設備投資風險。

愛德萬測試全新的T5830存儲器測試系統，作為T5800測試平臺的新成員正式投放市場，用于全面覆蓋移動電子市場Flash器件的各種測試需求，并向用戶提供最優化的測試解決方案。T5830測試系統同時具備支持前道晶圓測試以及后道封裝測試的能力。其測試模塊（Tester On Module）內置的可編程電源通道（PPS）的可擴展架構，可為不同引腳數量的芯片提供靈活經濟的硬件資源分配組合。

T5830測試系統非常適合測試采用標準串行外圍接口協議（SPI）的NOR和NAND Flash器件，以及引腳數較少的Flash器件（如智能卡、SIM、EEPROMs、內嵌式Flash等），可以完全應對并充分滿足中國大陸和臺灣地區蓬勃發展的物聯網與智能卡市場的測試需求。

T5851為通用閃存設備及PCle BGA固態硬盤提供系統級測試

愛德萬測試專為高效能通用快閃儲存（UFS）元件與PCIe BGA固態硬盤（SSD）提供了低成本測試解決方案，即T5851系統，可滿足智能手機、平板電腦、超便攜式產品等低功耗、移動應用市場對于存儲器IC的強勁需求。

T5851測試系統具有量產機型與工程開發機型，客戶可以根據應用需求彈性運用于可靠性測試、品質檢驗測試、測試程序開發測試等用途，也能在搭載自動化動態機械手（如愛德萬測試的M6242）的架構下，應用于量產環境。T5851是一套完全整合式的系統級測試解決方案，不僅能支持多種協議，且具備tester-per-DUT架構與專有的硬件加速器，使測試時間與效率領先業界。

勤于創新，才能不斷發展

愛德萬測試在測試領域耕耘多年，近兩年新增了太赫茲頻段信號測量和MEMS兩個領域，其每年銷售收入的20%都會投入到新產品研發中。為了更加貼近中國市場，繼北京、蘇州、成都之后，愛德萬測試又在西安成立了研發中心，并尋求未來在深圳設置分支的可能性。除了各地的研發中心外，愛德萬測試的全球應用研發中心也設立在中國，旗下100名經驗豐富的工程師，在服務于全球客戶的同時，竭力為中國本土客戶提供最佳服務。