腦死亡過程中谷氨酸與場電位的同步檢測微電極陣列研究

蔚文婧等

摘 要 高濃度胞外K+會引起神經元的去極化、谷氨酸釋放、甚至細胞死亡。為研究高濃度K+對在體神經元的影響，采用微機電系統（MEMS）方法制作了一種植入式微電極陣列（MEA），其上包含形狀、位置固定的電化學（50 × 150 μm）和電生理（直徑為15 μm）檢測位點，可同時進行腦內神經遞質谷氨酸、局部場電位信號（LFP）雙模檢測。將這種MEA植入到大鼠紋狀體后，給大鼠皮層施加高濃度K+刺激，結果表明， 高鉀刺激增加了紋狀體內谷氨酸濃度，同時抑制了神經電生理活動。這是首次采用雙模MEA研究神經元在體死亡過程，結果驗證了雙模微電極陣列在體檢測的可行性，可用于研究腦內神經電化學、電生理的時空關系。

關鍵詞 微機電系統； 植入式微電極陣列； 腦死亡； 高鉀； 谷氨酸； 局部場電位