測試測量

是德科技雙劍合璧，矢量網絡分析儀+頻譜分析功能

是德科技公司日前宣布推出新的功能選件，旨在為PNA和PNA-X系列微波矢量網絡分析儀（VNA）添加高性能頻譜分析儀功能。此功能選件可以將測試速度加快10到500倍。VNA綜合此功能后，即可在表征衛星設備、國防電子器件和商用無線器件中的S參數、壓縮和失真之余，還執行高速雜散測量，從而簡化系統連接，節省測量時間。

工程師在執行雜散測量時通常需要耗費大量時間，同時還面臨著測試時間與測試范圍之間的折中。利用新的高性能頻譜分析儀功能，Keysight（是德）PNA可以在寬廣的頻率范圍內執行快速雜散搜索，測試吞吐量相比現有測量方法提升500倍。測量結果可以與當前最快、最復雜的獨立頻譜或信號分析儀相提并論。

VNA還能夠在所有測試端口上同時實施頻譜測量。這種功能使分析儀只需連接一次便可表征混頻器、轉換器、放大器、模塊或子系統，從而縮短設計周期。例如LO、RF和IF饋通測量；諧波測量；互調產物測量；以及其他高階混頻產物測量。

邁來芯公司推出QVGA飛行時間成像評估套件

邁來芯公司加強了對于所提供的突破性飛行時間（ToF）傳感技術的支持。新發布的EVK75023評估套件能配合MLX75023QVGA （320x240像素）分辨率、并具有高動態范圍DepthSense像素的ToF傳感器。這種新的硬件平臺能夠實現更先進的人機界面（HMI）。

EVK75023可用于評估即使在最具挑戰性應用條件下的飛行時間傳感能力，這些應用中環境光變化帶來的不利影響必須要考慮。由于MLX75023成像器件的獨特結構，它能夠處理高達120klux的背景光。

EVK75023具有一個高帶寬的千兆以太網接口，通過它能以高達60fps的幀率輸出實時3D圖像，這些可用于識別復雜的手勢。通過一個基于C的API或通過Matlab SDK，用戶可以方便地開發自己的通信接口。